[发明专利]悬空LED光波导光电探测器单片集成器件及其制备方法有效
申请号: | 201510816501.1 | 申请日: | 2015-11-20 |
公开(公告)号: | CN105428305B | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | 王永进;朱桂遐;白丹;袁佳磊;许银 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762;H01L27/04;H01L21/822 |
代理公司: | 江苏爱信律师事务所 32241 | 代理人: | 刘琦 |
地址: | 210003 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种悬空LED光波导光电探测器单片集成器件及其制备方法,该器件利用各向异性硅刻蚀技术,剥离去除器件结构下硅衬底层,得到悬空氮化物薄膜LED光波导探测器单片集成器件,进一步采用氮化物背后减薄刻蚀技术,获得超薄的硅衬底悬空LED光波导探测器单片集成器件。本发明器件将光源、光波导和光电探测器集成在同一芯片上,LED器件发出的光,侧向耦合进光波导,通过光波导传输,在波导另一端被光电探测器检测到,实现平面光子单片集成器件,应用于光通信和光传感领域。 | ||
搜索关键词: | 悬空 led 波导 光电 探测器 单片 集成 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种悬空LED光波导光电探测器单片集成器件,其特征在于,该器件以硅基氮化物晶片为载体,包括硅衬底层(1)、设置在所述硅衬底层(1)上的外延缓冲层(2)、设置在所述外延缓冲层(2)上的LED器件和光电探测器,所述LED器件和光电探测器之间通过光波导(8)相连;所述LED器件和光电探测器均由p‑n结、p‑电极(7)和n‑电极(4)组成,所述p‑n结包括从下至上依次连接设置的n‑GaN层(3)、InGaN/GaN量子阱(5)和p‑GaN层(6),所述p‑电极(7)设置在p‑GaN层(6)上,在所述n‑GaN层(3)上表面有刻蚀出的阶梯状台面,所述阶梯状台面包括下台面和位于下台面上的上台面,所述上台面与InGaN/GaN量子阱(5)的底面连接,所述n‑电极(4)设置在下台面上;在所述光波导(8)上设置有一个将其分割为两部分的隔离槽,一部分与LED器件连接,另一部分与光电探测器连接,在所述n‑GaN层(3)下方设置有与p‑电极(7)、n‑电极(4)和光波导(8)的位置正对且贯穿硅衬底层(1)、外延缓冲层(2)至n‑GaN层(3)底面的空腔,使得LED器件、光电探测器和光波导(8)悬空。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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