[发明专利]静电放电保护结构及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201510654344.9 申请日: 2015-10-10
公开(公告)号: CN106571359B 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 李勇 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/088;H01L21/8234
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 徐文欣;吴敏
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种静电放电保护结构及其形成方法,静电放电保护结构的形成方法包括:提供衬底,衬底包括输入区,衬底输入区表面具有鳍部,衬底表面具有隔离层,隔离层位于部分鳍部的侧壁表面,且隔离层的表面低于鳍部顶部表面;在衬底和鳍部内形成阱区;在输入区的鳍部顶部表面形成外延层;在输入区的鳍部靠近顶部的区域内和外延层内形成漏区,漏区内具有第二类型离子;采用第一注入工艺在输入区的鳍部内和衬底内形成漏区延伸区,漏区延伸区与漏区相连接;采用第二注入工艺在输入区的衬底内形成反型区,反型区位于相邻鳍部之间、并使相邻鳍部底部的漏区延伸区相互隔离。所述静电放电保护结构的静电放电效率、且器件可靠性增强、使用寿命提高。
搜索关键词: 静电 放电 保护 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种静电放电保护结构的形成方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底包括输入区,所述衬底输入区表面具有鳍部,所述衬底表面具有隔离层,所述隔离层位于部分鳍部的侧壁表面,且所述隔离层的表面低于所述鳍部顶部表面;在所述衬底和鳍部内形成阱区,所述阱区内具有第一类型离子;在所述输入区的鳍部顶部表面形成外延层;在所述输入区的鳍部靠近顶部的区域内和所述外延层内形成漏区,所述漏区内具有第二类型离子;采用第一注入工艺在所述输入区的鳍部内和衬底内形成漏区延伸区,所述漏区延伸区与所述漏区相连接,所述漏区延伸区内具有第二类型离子;采用第二注入工艺在所述输入区的衬底内形成反型区,所述反型区位于相邻鳍部之间、并使相邻鳍部底部的漏区延伸区相互隔离,所述反型区内具有第一类型离子。
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