[发明专利]激光加工装置及系统、晶圆加工系统在审
申请号: | 201510141570.7 | 申请日: | 2015-03-27 |
公开(公告)号: | CN104762665A | 公开(公告)日: | 2015-07-08 |
发明(设计)人: | 周伟;严利人;刘志弘;刘荣华;王全;张伟 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;清华大学 |
主分类号: | C30B33/04 | 分类号: | C30B33/04;H01L21/268 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;林彦之 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种激光加工装置及系统、晶圆加工系统,通过激光器、扩束镜、反光镜、聚焦镜、积分棒和聚束透镜组的组合,使激光光束产生匀化后的光斑,其中,积分棒可以将来自聚焦镜的高斯分布的光束进行匀化,通过聚束透镜组将匀化后的激光束斑缩小后,在半导体晶圆上进行光栅式扫描,完成对晶圆的加工。本发明的激光加工装置及系统、晶圆加工系统结构简单,成本低廉,使用方便。 | ||
搜索关键词: | 激光 加工 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种激光加工装置,用于对半导体晶圆进行激光扫描加工,其特征在于,其包括:激光器,用于产生激光光束;扩束镜,用于调整激光器发出的光束的光斑尺寸和减少光束发散;反射镜,用于改变来自扩束镜的光束的方向并对准聚焦镜;聚焦镜,用于将来自反射镜的光束聚焦在积分棒的入射面中心;积分棒,用于匀化来自聚焦镜的光束;聚束透镜组,用于将来自积分棒的光束的光斑缩小,并将产生的激光光束对半导体晶圆进行激光扫描加工。
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