[发明专利]非易失性存储器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201510060039.7 申请日: 2015-02-05
公开(公告)号: CN105990360B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 郑育明 申请(专利权)人: 物联记忆体科技股份有限公司;郑育明
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种非易失性存储器,具有存储单元。存储单元具有堆叠结构、浮置栅极、隧穿介电层、抹除栅介电层、辅助栅介电层、源极区、漏极区、控制栅极以及栅间介电层。堆叠结构具有依序设置的栅介电层、辅助栅极、绝缘层以及抹除栅极。浮置栅极设置于堆叠结构的第一侧的侧壁。隧穿介电层设置于浮置栅极下。抹除栅介电层设置于抹除栅极与浮置栅极之间。辅助栅介电层设置于辅助栅极与浮置栅极之间。源极区与漏极区分别设置于堆叠结构与浮置栅极两侧。控制栅极设置于源极区与浮置栅极上。栅间介电层设置于控制栅极与浮置栅极之间。
搜索关键词: 非易失性存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种非易失性存储器,其特征在于,包括:第一存储单元,设置于基底上,所述第一存储单元,包括:堆叠结构,包括依序设置于所述基底上的栅介电层、辅助栅极、绝缘层以及抹除栅极;浮置栅极,设置于所述堆叠结构的第一侧的侧壁,且所述浮置栅极的顶部具有转角部,所述转角部邻近所述抹除栅极,且所述转角部高度落于所述抹除栅极高度间;隧穿介电层,设置于所述浮置栅极与所述基底之间,且所述栅介电层的厚度小于所述隧穿介电层的厚度;抹除栅介电层,设置于所述抹除栅极与所述浮置栅极之间;辅助栅介电层,设置于所述辅助栅极与所述浮置栅极之间,且所述辅助栅介电层的厚度大于所述抹除栅介电层的厚度;源极区与漏极区,分别设置于所述堆叠结构与所述浮置栅极两侧的所述基底中,其中所述源极区邻接所述浮置栅极,所述漏极区邻接所述堆叠结构的第二侧,所述第一侧与所述第二侧相对;控制栅极,设置于所述源极区与所述浮置栅极上;以及栅间介电层,设置于所述控制栅极与所述浮置栅极之间。
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