[发明专利]一种LED芯片寿命快速估算方法

摘要

本发明提供了一种LED芯片寿命快速估算方法，其包括有选两个样品、老化前初始反向电流的测量、高温下加快光通量衰减来进行老化测试、老化后反向电流的测量、和寿命的公式估算这几个步骤，这样通过施加反向电压来测得样品在光衰减前后的反向电流，再利用计算公式就可快速估算出LED芯片的寿命，从而缩短产品研发周期，为改善LED芯片寿命提供了更有力的保障，并能有效缩短LED芯片寿命估算时间，减小试验成本。

主权项

一种LED芯片寿命快速估算方法，其特征在于，包括以下步骤：A、选样品对同一批次的LED芯片随机选取样品2个，分别编号为1号样品、2号样品，在300K温度环境中，给1号样品加额定工作电流，测量得到初始光通量Φ₀；B、老化前的测量给1号样品分别加恒定反向电压V₀，测量得到初始反向电流I₀；C、老化测试将1号样品放入第1个测试箱，2号样品放入第2个测试箱，第1个和第2个测试箱分别设定测试温度为T₁和T₂，其中300K≤T₁＜T₂，第1个和第2个测试箱分别设定测试电流为额定电流，开始老化测试，选定测试箱温度较高的那个样品来测光通量，当其光通量衰减为初始光通量的70%时，这两个样品都停止老化，记录老化时间t₁； D、老化后测量从2个测试箱取出测试样品，给样品分别加恒定反向电压V₀，1号样品测量得到反向电流I₁，2号样品测量得到反向电流I₂；E、寿命估算将三组条件：1、T=300K，t=0，I=I₀，2、T= T₁，t= t₁，I=I₁，3、T= T₂，t= t₁，I=I₂分别代入如下寿命估算公式得到方程组解方程组得到将条件T=300K，I=I₂代入寿命估算公式解得LED芯片寿命时间为。