[发明专利]一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法有效

专利信息
申请号: 201410492738.4 申请日: 2014-09-24
公开(公告)号: CN104213197B 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 张颖武;程红娟;练小正;张志鹏;李璐杰;司华青;徐永宽 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C30B31/02 分类号: C30B31/02;C30B29/50
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司12105 代理人: 胡京生
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,步骤如下1)采用两温区PVT晶体生长炉,将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入原料区、衬底放入衬底位置;2)调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺杂元素的单晶。有益效果是利于掺杂元素的均匀分布,使单晶材料实现均一的电学性能;减少了晶体结构损失,从而有效改善晶体质量;简化了单晶材料制备工艺,有利于单晶材料的规模化生产。
搜索关键词: 一种 用于 pvt 法制 半导体 材料 原位 掺杂 方法
【主权项】:
一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,采用两温区PVT晶体生长炉,步骤如下:1)、将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入两温区PVT晶体生长炉原料区(1)、衬底放入炉内衬底(5)位置;2)、调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定,即在PVT法晶体生长过程中,同时加入特殊物质的气氛,特殊物质为需要掺杂的物质的单质元素或化合物,使掺杂元素伴随晶体生长的过程进入到晶体内部格点位置,保证了掺杂均匀性和晶体结构完整性,从而实现理想掺杂效果; 3)、待生长工艺结束后取出生长管(4),即可得到掺杂元素的单晶;PVT法制备掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶,硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以氯化镉为掺杂源,氯化镉以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区(1),晶体生长中的温区设置为1010℃、980℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶;PVT法制备掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶,硒化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铝单质为掺杂源,铝单质以粉末态与硒化镉源粉混合放置于原料区(1),晶体生长中的温区设置为950℃、900℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。
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