[发明专利]微电子装置及制造方法、微机电封装结构及封装方法有效
申请号: | 201410429767.6 | 申请日: | 2009-09-02 |
公开(公告)号: | CN104326436B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 徐新惠;李昇达;王传蔚 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81C1/00 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司31264 | 代理人: | 杨波 |
地址: | 中国台湾科学工业园*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种微电子装置及制造方法、微机电封装结构及封装方法,其中该微电子装置的制造方法,其先在基底的CMOS电路区内形成半导体元件,接着在基底上形成多层金属层、多个接触窗、多层氧化层与第一保护层,其中第一保护层位于至少一层氧化层上,且这些金属层与氧化层交错层叠,而接触窗形成于氧化层内,并连接至对应的金属层,以于基底的微机电区上构成微机电结构,并于CMOS电路区上构成内连线结构。然后,在内连线结构上形成第二保护层。之后,移除微机电区上的部分氧化层,以使微机电结构部份地悬于基底上方。由于CMOS电路与微机电元件可整合至同一工艺中完成,因此可降低微电子装置的生产成本。另外,本发明还提供一种微电子装置与微机电封装结构及其封装方法。 | ||
搜索关键词: | 微电子 装置 制造 方法 微机 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种微电子装置,其特征在于其包括:一基底,具有一CMOS电路区与一微机电区,其中该CMOS电路区与该微机电区是位于该基底的相同水平上;至少一半导体元件,配置于该基底的该CMOS电路区内;一抗金属离子层,配置于该基底的该CMOS电路区上而覆盖该半导体元件;一非掺杂氧化层,配置于该基底的该微机电区上;以及一微机电结构,部分地悬于该非掺杂氧化层上方,所述微机电结构包括位于该微机电区上的多层金属层、位于该微机电区上的多个接触窗及位于该微机电区上的多层氧化层,其中该些金属层与该些氧化层交错层叠,而该些接触窗位于该些氧化层内,该CMOS电路区与该微机电区至少共享部分相同的金属层。
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