[发明专利]增加发光效率的LED外延层生长方法及LED外延层有效

专利信息
申请号: 201410200944.3 申请日: 2014-05-13
公开(公告)号: CN103943740A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 林传强;许孔祥;周佐华 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/30
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;郑隽
地址: 423038 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一种增加发光效率的LED外延层生长方法及LED外延层,生长有源层MQW步骤为:生长InxGa1-xN层和AlyGaN层,其中x=0.15-0.25,y=0.10-0.15,InxGa1-xN/AlyGa1-yN周期数为5-6;然后再生长InxGa1-xN层和InyGa1-yN,其中y=0.05-0.10,InxGa1-xN/InyGa1-yN的周期数为5-6。将发光层量子阱垒层由原来的InGaN/GaN超晶格材料设计为第一InGaN/AlGaN超晶格和第一InGaN/第二InGaN超晶格的组合,提高电子和空穴在量子阱中的浓度,增加器件发光效率。
搜索关键词: 增加 发光 效率 led 外延 生长 方法
【主权项】:
一种增加发光效率的LED外延层生长方法,依次包括处理衬底、生长低温缓冲GaN层、生长非掺杂GaN层、生长掺Si的GaN层、生长有源层MQW、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层步骤,其特征在于,所述生长有源层MQW步骤为:A、在温度为700‑750℃,反应腔压力在300‑400mbar的反应室内,通入59000sccm的NH3、120sccm的TEGa、1700sccm的TMIn,生长掺杂In的2.8‑3.5nm的InxGa1‑xN层,其中x=0.15‑0.25,In的掺杂浓度1E+20‑3E+20atom/cm3;升温至800‑850℃,通入59000sccm的NH3、420sccm的TEGa、30sccm的TMAl,生长10‑15nm的AlyGaN层,其中y=0.10‑0.15,Al的掺杂浓度1E+18‑2E+18atom/cm3;InxGa1‑xN/AlyGa1‑yN周期数为5‑6;B、反应腔压力维持在300‑400mbar,低温700‑750℃,通入59000sccm的NH3、120sccm的TEGa、1700sccm的TMIn,生长掺杂In的2.8‑3.5nmInxGa1‑xN层,其中x=0.15‑0.25,In的掺杂浓度1E+20‑3E+20atom/cm3;升温至800‑850℃,通入59000sccm的NH3、420sccm的TEGa、700sccm的TMIn,生长10‑15nm的InyGa1‑yN,其中y=0.05‑0.10,In的掺杂浓度1E+18‑2E+18atom/cm3;InxGa1‑xN/InyGa1‑yN的周期数为5‑6。
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