[发明专利]碳化硅单晶的清洗方法无效

专利信息
申请号: 201410178793.6 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN103949429A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 张丹;赵淑贞;张飞虎;甘阳 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: B08B3/02 分类号: B08B3/02;B08B3/08
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 侯静
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 碳化硅单晶的清洗方法,它涉及一种单晶的清洗方法。本是为了解决现有清洗SiC的方法步骤繁琐的技术问题。本方法如下:将SiC单晶在温度为75~85℃的混合溶液A中浸泡15~25min,然后用去离子水冲洗SiC单晶,再氮气吹干,所述混合溶液A为浓硫酸和双氧水的混合液,其中浓硫酸与双氧水的体积比为2.8~3.2:1。本发明的SiC单晶的清洗方法重复性好,清洗得的SiC单晶洁净度高,清洗后的SiC单晶表面只有Si、O、C三种元素,其中杂质碳含量<10%。清洗采用的设备简单,操作方便,易于掌握,过程安全、无污染。本发明属于单晶的清洗领域。
搜索关键词: 碳化硅 清洗 方法
【主权项】:
碳化硅单晶的清洗方法,其特征在于碳化硅单晶的清洗方法按照以下步骤进行:一、采用表面活性剂刷洗SiC单晶3~5min,然后用去离子水冲洗SiC单晶;二、将经过步骤一处理的SiC单晶在温度为75~85℃的混合溶液A中浸泡15~25min,然后用去离子水冲洗SiC单晶,再氮气吹干,所述混合溶液A为浓硫酸和双氧水的混合液,其中浓硫酸与双氧水的体积比为2.8~3.2:1。
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