[发明专利]用于静电防护的半导体结构在审

专利信息
申请号: 201410022415.9 申请日: 2014-01-17
公开(公告)号: CN104733442A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 柯钧钟;吴志伦;林硕彦 申请(专利权)人: 台湾类比科技股份有限公司
主分类号: H01L23/60 分类号: H01L23/60
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种用于静电防护的半导体结构,其设置在一个集成电路上,该集成电路包含一个封环设置在该集成电路的外围,一个金属环设置在该封环的内侧,以及一个电源总线设置在该金属环的一侧,该半导体结构包含一个第一P型电极区,一个第二P型电极区,以及一个第一N型电极区。该第一P型电极区形成在P型井上相对应于该封环的位置,且耦接至该封环。该第二P型电极区形成在P型井上相对应于该金属环的位置,且耦接至该金属环。该第一N型电极区形成在相对应于该电源总线的位置,且耦接至该电源总线。通过上述方式,本发明能够节省集成电路的空间且能够提高静电防护能力。
搜索关键词: 用于 静电 防护 半导体 结构
【主权项】:
一种用于静电防护的半导体结构,其特征在于,所述半导体结构设置在一个集成电路上,所述集成电路包含一个封环(seal ring)设置在所述集成电路的外围,一个金属环设置在所述封环的内侧,以及一个电源总线设置在所述金属环的一侧,所述半导体结构包含:一个第一P型电极区,形成在一个P型井上相对应于所述封环的位置,且耦接至所述封环;一个第二P型电极区,形成在所述P型井上相对应于所述金属环的位置,且耦接至所述金属环;以及一个第一N型电极区,形成在相对应于所述电源总线的位置,且耦接至所述电源总线;其中,所述封环及所述金属环耦接至一个接地端,所述电源总线耦接至一个电压源。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾类比科技股份有限公司;,未经台湾类比科技股份有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410022415.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top