[发明专利]包含具有硼层的硅衬底的光阴极有效

专利信息
申请号: 201380050971.0 申请日: 2013-07-29
公开(公告)号: CN104704640B 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 勇-霍·亚历克斯·庄;约翰·费尔登 申请(专利权)人: 科磊股份有限公司
主分类号: H01L31/10 分类号: H01L31/10
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 张世俊
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在具有相对所照射(顶部)表面和输出(底部)表面的单晶硅衬底上形成光阴极。为防止所述硅氧化,使用使氧化和缺陷降到最低的方法将薄(例如,1nm到5nm)硼层直接安置于所述输出表面上,并且然后在所述硼层上方形成低功函数材料层以增强光电子的发射。所述低功函数材料包含碱金属(例如,铯)或碱金属氧化物。在所述所照射(顶部)表面上形成可选第二硼层,并在所述硼层上形成可选抗反射材料层以增强光子进入所述硅衬底中。在所述相对所照射(顶部)表面与输出(底部)表面之间产生可选外部电位。所述光阴极形成新颖传感器和检查系统的一部分。
搜索关键词: 包含 具有 衬底 阴极
【主权项】:
一种光阴极,其包括:硅衬底,其具有相对第一表面和第二表面;第一层,其由硼组成且直接安置于所述硅衬底的所述第二表面上;和第二层,其包括低功函数材料且安置于所述第一层上。
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