[发明专利]质量分析方法以及质量分析系统无效
| 申请号： | 201380038972.3 | 申请日： | 2013-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN104508474A | 公开（公告）日： | 2015-04-08 |
| 发明（设计）人： | 马场纪子;吉冈信二;安田博幸 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人： | 曾贤伟;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种防止定量精度的降低的质量分析方法。作为使用了质量分析装置、在该质量分析装置的前级连接了将试样成分的强度和检出时间显示为色谱数据的副检测器的分析系统的质量分析方法，(a)注入试样后，通过具有上述副检测器的分析装置分析试样，将通过了该检测器的试样注入到上述质量分析装置；(b)用上述副检测器和上述质量分析装置的双方取得数据；(c)将重复的峰的有无、以及在上述副检测器和上述质量分析装置之间是否存在相同峰作为基准，判断对通过上述副检测器和上述质量分析装置检测出的检出峰中的哪个检出峰进行分析。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种质量分析方法，其使用了将质量分析装置、在该质量分析装置的前级将试样成分的强度和检出时间显示为色谱数据的副检测器连接起来的分析系统，该质量分析方法的特征在于，(a)注入试样后，通过具有上述副检测器的分析装置分析试样，将通过了该检测器的试样注入到上述质量分析装置，(b)用上述副检测器和上述质量分析装置的双方取得数据，(c)将重复的峰的有无、以及在上述副检测器和上述质量分析装置之间是否存在相同峰作为基准，判断对通过上述副检测器和上述质量分析装置检测出的检出峰中的哪个检出峰进行分析。
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