[发明专利]用于形成光电子装置的技术在审
申请号: | 201380023625.3 | 申请日: | 2013-05-03 |
公开(公告)号: | CN104272436A | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 弗兰乔斯·J·亨利;西恩·康;艾伯特·拉姆 | 申请(专利权)人: | 硅源公司 |
主分类号: | H01L21/30 | 分类号: | H01L21/30 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 描述了涉及使用粒子加速器光束来从大块基板形成材料的薄膜的实施方式。在具体实施方式中,具有顶表面的大块基板被暴露到加速粒子的光束中。在某些实施方式中,该大块基板可包括GaN;在其他实施方式中,该大块基板可包括(111)单晶硅。然后,通过沿着由从光束灌输的颗粒形成的劈裂区域进行受控劈裂过程将薄膜或薄片材料与所述大块基板分离。在某些实施方式中,该分离的材料被直接结合在光电子装置内,例如,与从GaN大块材料劈裂的GaN薄膜。在一些实施方式中,该分离的材料可被用作模板,用于对光电子装置有用的的半导体材料(例如,GaN)的进一步生长。 | ||
搜索关键词: | 用于 形成 光电子 装置 技术 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:设置工件,所述工件支撑额外材料的层;引入多个粒子通过所述额外材料,以在所述工件内形成劈裂区域;施加能量,以从所述工件的剩余部分劈下分离厚度的包括额外材料的所述层的工件材料;处理额外材料的所述层;以及将额外材料的所述层结合至基板,所述基板的热膨胀系数约等于额外材料的所述层的热膨胀系数。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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