[发明专利]用于有机电子器件的堤岸结构有效
申请号: | 201380021628.3 | 申请日: | 2013-04-18 |
公开(公告)号: | CN104245783B | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | P·米希凯维奇;T·巴克隆德;P·E·梅;T·卡尔;L·F·罗迪斯;E·埃尔斯;A·贝尔 | 申请(专利权)人: | 默克专利股份有限公司;普罗米鲁斯有限责任公司 |
主分类号: | C08G61/08 | 分类号: | C08G61/08;H01L27/32;C08L65/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 冯奕 |
地址: | 德国达*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及多环烯烃聚合物在有机电子器件中作为结构限定材料的用途,例如在这些器件的隔板、绝缘结构或堤岸结构中,且进一步涉及包含该多环烯烃聚合物堤岸结构的有机电子器件,且涉及制备该多环烯烃聚合物堤岸结构和有机电子器件的方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 有机 电子器件 堤岸 结构 | ||
【主权项】:
有机电子器件,包括一种或多种堤岸结构,其中所述堤岸结构包含多环烯烃聚合物,其中所述有机电子器件是有机场效应晶体管(OFET),其包含被隔开以形成沟道区域的源电极和漏电极,并且其中提供所述堤岸结构使它们覆盖于所述源电极和漏电极上且限定延伸于沟道区域上的阱或阱的图案,并且在其中提供有机半导体层,使得堤岸结构接触源电极和漏电极和有机半导体层;其中所述多环烯烃聚合物包含一种或多种不同类型的式I重复单元其中Z选自‑CH2‑、‑CH2‑CH2‑或‑O‑,m是0‑5的整数,R1、R2、R3和R4每个独立地选自H、C1‑C25烃基或C1‑C25卤代烃基。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于默克专利股份有限公司;普罗米鲁斯有限责任公司,未经默克专利股份有限公司;普罗米鲁斯有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380021628.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高压氢脆结构试验装置及试验方法
- 下一篇:一种梯度围压加载方法