[实用新型]一种集成电路芯片的latch-up保护结构有效
申请号: | 201320839302.9 | 申请日: | 2013-12-18 |
公开(公告)号: | CN203707130U | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 金湘亮;蒋琦;袁晖晖 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/58 |
代理公司: | 湘潭市汇智专利事务所(普通合伙) 43108 | 代理人: | 颜昌伟 |
地址: | 411105*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种集成电路芯片的latch-up保护结构,包括芯片的内部电路以及与内部电路相连的驱动电路,所述驱动电路包括P型衬底,NMOS管以及PMOS管,NMOS管置于P型衬底上,P型衬底上设有N阱,所述PMOS管置于N阱中,所述PMOS管与N阱之间设有第一隔离层,所述NMOS管与P型衬底之间设有第二隔离层,所述第一隔离层与N阱之间设有第一保护环,第二隔离层与P型衬底之间设有第二保护环。本实用新型的NMOS管和PMOS管的衬底中设有ESD1DM隔离层,加强了漏极扩散区与衬底的隔离;NMOS管与PMOS管之间设有保护环,能够达到切断芯片中寄生SCR的电流路径的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 芯片 latch up 保护 结构 | ||
【主权项】:
一种集成电路芯片的latch‑up保护结构,包括芯片的内部电路以及与内部电路相连的驱动电路,所述驱动电路包括P型衬底,NMOS管以及PMOS管,NMOS管置于P型衬底上,P型衬底上设有N阱,所述PMOS管置于N阱中,其特征在于:所述PMOS管与N阱之间设有第一隔离层,所述NMOS管与P型衬底之间设有第二隔离层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的