[发明专利]嵌入式存储器测试系统

摘要

本申请案涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将所述受测试存储器并入于不与pBIST模块集成的多个子芯片中。在分布式数据记录架构中执行测试数据比较以使分布式数据记录器与所述pBIST之间的互连件的数目最小化。

主权项

1.一种嵌入式存储器测试系统，其包括：可编程内建自测试pBIST引擎，所述pBIST引擎产生4位数据字wdata[3:0]及三位控制信号ctl[2:0]；多个分布式数据记录电路，其与所述pBIST引擎通信；多个总线扩展器，所述多个总线扩展器中的每一者连接至对应的分布式数据记录器，所述多个总线扩展器中的每一者连接至所述pBIST引擎以接收所述4位数据和所述3位控制信号，所述多个总线扩展器中的每一者将所述4位数据字wdata[3:0]扩展为如下的32位的经扩展数据字wdata[31:0]：如果ctl[0]是1，则经扩展的4至7位是w[3:0]的倒置；否则如果ctl[0]是0，则经扩展的4至7位等于w[3:0]；并形成数据wdata[7:0]；如果ctl[1]是1，则经扩展的8至15位是w[7:0]的倒置；否则如果ctl[1]是0，则经扩展的8至15位等于w[7:0]；并形成数据wdata[15:0]；及如果ctl[2]是1，则经扩展的16至31位是w[15:0]的倒置；否则如果ctl[2]是0，则经扩展的16至31位等于w[15:0]；并形成数据wdata[31:0]；以及一个或一个以上存储器块，其可与每一分布式数据记录器一起操作。