[发明专利]一种低温高电阻温度系数无热滞薄膜材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310496560.6 申请日: 2013-10-21
公开(公告)号: CN103540903A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 金平实;曹逊;周怀娟;姜萌;罗宏杰 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08
代理公司: 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 代理人: 曹芳玲;郑优丽
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种低温高电阻温度系数无热滞薄膜材料及其制备方法,所述薄膜材料是以金属钒、金属M、和金属N为靶材,以氩气为溅射气体、以及以氧气为反应气体对所述靶材进行磁控溅射而在衬底上形成的V2-x-yMxNyO3薄膜,其中x为0.2以下且大于零,y为0.2以下且大于零,其中掺杂元素M为W、Mo、Mg、Sb、Nb、和/或Al,掺杂元素N为Ti、Cr、和/或Zn,所述薄膜材料在80K~225K之间具有无热滞的电阻-温度回线。本发明的薄膜材料基于低成本的三氧化二钒基薄膜材料,通过调控元素掺杂含量,在基本不改变薄膜热色性能的前提下,达到消除V2O3薄膜热滞回线的目的,可望应用于低温温度计或低温空间红外探测。
搜索关键词: 一种 低温 电阻 温度 系数 无热滞 薄膜 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种低温高电阻温度系数无热滞薄膜材料,其特征在于,所述薄膜材料是以金属钒、金属M、和金属N为靶材,以氩气为溅射气体、以及以氧气为反应气体对所述靶材进行磁控溅射而在衬底上形成的V2‑x‑yMxNyO3薄膜,其中x为0.2以下且大于零,y为0.2以下且大于零,其中掺杂元素M为W、Mo、Mg、Sb、Nb、和/或Al,掺杂元素N为Ti、Cr、和/或Zn,所述薄膜材料在80K~225K之间具有无热滞的电阻‑温度回线。
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