[发明专利]非接触式透镜中心厚度测量方法有效
申请号: | 201310342210.4 | 申请日: | 2013-08-07 |
公开(公告)号: | CN103411547A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 张大伦;田骏;陈康 | 申请(专利权)人: | 茂莱(南京)仪器有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 徐冬涛;瞿网兰 |
地址: | 211102 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种非接触式透镜中心厚度测量方法,使用一台菲索型干涉仪、一台双频激光测距仪、测量导轨及透镜调整架等组合装置,通过对被测透镜进行机械定中、干涉定位、激光测距和数据处理,最终得到透镜中心厚度,与现有的用量具接触测量相比,具有准确、高效、非接触、不伤表面等优点。 | ||
搜索关键词: | 接触 透镜 中心 厚度 测量方法 | ||
【主权项】:
一种非接触式透镜中心厚度测量方法,其特征是它包括以下步骤:首先,将待测透镜安装在五维调整架上,再将五维调整架安装在导轨上,同时在导轨一侧安装双频激光测长装置;第二,调整五维调整架在导轨上的位置,使激光干涉仪标准镜头聚焦于被测透镜第一表面顶点猫眼像位置处,双频激光测长装置同时记录下此时导轨的第一位置值;第三,移动五维调整架,使激光干涉仪标准镜头透过第一表面,聚焦于透镜第二表面猫眼像位置处,双频激光测长装置同时记录下此时导轨的第二位置值;第四,通过计算导轨从第一位置移动到第二位置的值,即可得到透镜中心光程测量值L;最后,将所测得的值代入以下公式即可计算出透镜的中心厚度值d: d = R + 1 n ′ ( L - R ) SinU Sin U ′ 其中 U ′ = U + arcsin [ ( L + R ) SinU R ] - arcsin [ ( L - R ) SinU n ′ R ] 式中n’:透镜折射率R:第一表面曲率半径,凸面取“+”,凹取“‑”,L:光程测量值,取“+”,U:物方孔径角,U’:像方孔径角。
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