[发明专利]插塞结构及其制作工艺在审

专利信息
申请号: 201310109084.8 申请日: 2013-03-29
公开(公告)号: CN104078445A 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 洪庆文;黄志森;曹博昭 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L23/532 分类号: H01L23/532;H01L21/768
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种插塞结构及其制作工艺,该插塞结构包含一第一介电层、一第二介电层、一阻障层以及一第二插塞。第一介电层位于一基底上,第一介电层具有一第一插塞位于其中,其中第一插塞连接位于基底中的一源/漏极。第二介电层位于第一介电层上,且第二介电层具有一开口暴露出第一插塞。阻障层顺应覆盖开口,其中阻障层具有一底部以及一侧壁部,且底部为单层并连接第一插塞,而侧壁部为双层。第二插塞填满开口并位于阻障层上。此外,本发明更提供一种形成此插塞结构的制作工艺。
搜索关键词: 结构 及其 制作 工艺
【主权项】:
一种插塞结构,包含:第一介电层,位于一基底上,该第一介电层具有第一插塞,位于其中,其中该第一插塞连接位于该基底中的一源/漏极;第二介电层,位于该第一介电层上,该第二介电层具有开口,暴露出该第一插塞;阻障层,顺应覆盖该开口,其中该阻障层具有底部以及侧壁部,且该底部为单层并连接该第一插塞,而该侧壁部为双层;以及第二插塞,填满该开口并位于该阻障层上。
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