[发明专利]插塞结构及其制作工艺在审
申请号: | 201310109084.8 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN104078445A | 公开(公告)日: | 2014-10-01 |
发明(设计)人: | 洪庆文;黄志森;曹博昭 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/532 | 分类号: | H01L23/532;H01L21/768 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种插塞结构及其制作工艺,该插塞结构包含一第一介电层、一第二介电层、一阻障层以及一第二插塞。第一介电层位于一基底上,第一介电层具有一第一插塞位于其中,其中第一插塞连接位于基底中的一源/漏极。第二介电层位于第一介电层上,且第二介电层具有一开口暴露出第一插塞。阻障层顺应覆盖开口,其中阻障层具有一底部以及一侧壁部,且底部为单层并连接第一插塞,而侧壁部为双层。第二插塞填满开口并位于阻障层上。此外,本发明更提供一种形成此插塞结构的制作工艺。 | ||
搜索关键词: | 结构 及其 制作 工艺 | ||
【主权项】:
一种插塞结构,包含:第一介电层,位于一基底上,该第一介电层具有第一插塞,位于其中,其中该第一插塞连接位于该基底中的一源/漏极;第二介电层,位于该第一介电层上,该第二介电层具有开口,暴露出该第一插塞;阻障层,顺应覆盖该开口,其中该阻障层具有底部以及侧壁部,且该底部为单层并连接该第一插塞,而该侧壁部为双层;以及第二插塞,填满该开口并位于该阻障层上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310109084.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件及其制造方法
- 下一篇:超接合半导体装置的制造方法