[发明专利]光学测量机器及方法有效
申请号: | 201310084652.3 | 申请日: | 2013-03-15 |
公开(公告)号: | CN103486966B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | S·安德瑞尼;M·维世 | 申请(专利权)人: | 维世和世股份公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01N21/84 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 张兰英 |
地址: | 意大利里米*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种光学测量机器包括光学探测单元(7),光学探测单元装备有发光装置(8)和视频捕捉装置(9);支承件(4),支承件插入在发光装置(8)和视频捕捉装置(9)之间,该支承件包括透明板(6),其形成用于待测量工件(100)的支承台(A),并沿着被光束横过的光路(B)定位;以及运动装置(10、30),该运动装置构造成产生透明板(6)和光学探测单元(7)之间的相对运动,以便沿着运动方向(C)形成被捕捉的视域(V)的多个帧,形成机器的测量区域(M)。该测量机器还包括连接到支承件(4)的复查校准器(20),其沿着横向于运动方向(C)的至少一个方向延伸,并定位在机器的测量区域(M)内,该区域在离视频捕捉装置(9)某一距离的平面内,该距离等于焦距,以形成用于纠正测量误差的比较元件。 | ||
搜索关键词: | 光学 测量 机器 方法 | ||
【主权项】:
一种光学测量机器,该光学测量机器包括:‑光学探测单元(7),光学探测单元装备有发光装置(8)和视频捕捉装置(9),该发光装置(8)构造成产生沿预定光路(B)的光束,视频捕捉装置(9)沿光路(B)至少部分地与发光装置(8)对齐以便接受光束;视频捕捉装置(9)具有预定的焦距(F)和预设的视域(V);‑支承件(4),支承件插入在发光装置(8)和视频捕捉装置(9)之间,该支承件包括透明板(6),其形成用于待测量工件(100)的支承台(A),并沿着被光束横过的光路(B)定位;‑运动装置(10、30),该运动装置构造成产生透明板(6)和光学探测单元(7)之间的相对运动,该运动沿着运动方向(C),与光路(B)成直角,以便沿着运动方向(C)使视域(V)的多个帧被捕捉,运动方向(C)形成机器的测量区域(M);其中,测量机器包括连接到支承件(4)的复查校准器(20),其沿着至少一个横向于运动方向(C)的方向延伸,并定位在机器的测量区域(M)内,该区域在离视频捕捉装置(9)一距离的平面内,该距离等于焦距(F),以形成用于纠正测量误差的比较元件;其特征在于,复查校准器(20)包括装备有多个比较元件(24)的至少一段(23),该比较元件(24)沿着该段(23)自身延伸的方向相继地布置;所述光学测量机器还包括处理单元(19),该处理单元(19)具有纠正模块(21),所述纠正模块(21):构造成将代表由视频捕捉装置(9)捕捉到的图像中各个比较元件(24)位置的值与对应的储存的参考值进行比较,以及编程而计算用于每个比较元件(24)的图像纠正因子,从而对捕捉到的图像的每个区带提供不同的纠正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于维世和世股份公司,未经维世和世股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310084652.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种瓷绝缘子染污用自动旋转装置
- 下一篇:全程全空间瞬变电磁装置及测量方法