[发明专利]一种自动识别并分割位置谱的方法及装置

摘要

一种自动识别并分割位置谱的方法，其步骤为获取数据；设置一个初始阈值作为最大值，扫描图谱中所有的点，若有值等于该初始阈值，标记该点为位置点；将上述阈值减1，扫描图谱中所有的点，如果在以该阈值对应的点为中心，R为半径的区域里有位置点标记，或者有边界标记，将该点标记成边界，若既没有位置点标记也没有边界标记，将该点标记成位置点；重复以上步骤，直到标记出N个位置点；用直线拟合的方法查找没有识别的位置点；横向两点间相连和纵向两点间相连，分割出位置谱。本发明能实现全自动分割，可以在硬件中实现，直接传给后端，不需要在显示器上进行人工分割，效率高，省时间，更准确，适用性广。

主权项

一种自动识别并分割位置谱的方法，其特征在于：步骤如下：步骤S1：从探测器中获取数据图谱，并对数据图谱进行预处理；步骤S2：对步骤S1中预处理后的数据图谱进行分水岭图像分割，获得初步晶体位置点；步骤S3：用直线拟合或曲线拟合的方法查找步骤S2中没有识别的位置点；其中，所述步骤S3中用直线拟合的方法查找没有识别的位置点，具体步骤为：步骤T31：将步骤S2中找出的位置点按竖直方向从小到大排序；步骤T32：增加一条直线，该直线的初始位置为第一个非拟合点，并标记该点为拟合点；步骤T33：计算下一个点到该直线的距离，如果大于阈值，重复步骤T32；否则标记该点为已拟合点，计算所有标记为拟合点的平均值，移动直线到平均值的位置，所述阈值为两个晶体间的实际物理位置的距离；步骤T34：重复步骤T33，直到所有点都拟合完；步骤T35：将步骤S2中找出的位置点按水平方向从小到大排序，重复步骤T32到步骤T34；步骤T36：设置步骤S2中没有识别的点为水平线和竖直线的交点；所述步骤S3中用曲线拟合的方法查找没有识别的位置点，具体步骤为：步骤T41：取晶体实际位置点拟合成的曲线为经验曲线；步骤T42：增加一条横向曲线，该曲线的初始位置为第一个非拟合点，计算所有点到该曲线的纵向距离，标记在阈值内的点为拟合点；步骤T43：曲线往下移1个单位，计算拟合点到该曲线的纵向距离的方差；步骤T44：重复步骤T43，直到方差最小；步骤T45：将拟合点到该曲线的距离按大小排列；步骤T46：去掉距离最大的点，直到点数不超过实际晶体的点数，并标记为非拟合点；步骤T47：重复步骤T42，直到所有的点都拟合完；步骤T48：将步骤T42中的曲线改成竖直曲线，重复步骤T42到步骤T44；步骤T49：设置步骤S2中没有识别的点为横向曲线和竖直曲线的交点；步骤S4：横向两点间相连，和纵向两点之间相连，分割出位置谱。