[发明专利]一种硅基氮化铌薄膜超导材料及其制作方法有效
申请号: | 201310058854.0 | 申请日: | 2013-02-25 |
公开(公告)号: | CN103165811A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 苏晓东;张婧娇;郑磊 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | H01L39/12 | 分类号: | H01L39/12;H01L39/24;C23C14/06;C23C14/35 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 唐灵;常亮 |
地址: | 215123 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明制备一种硅基氮化铌薄膜超导材料,包括Si基底、TiN过渡层,以及NbN层。由于直接在Si基片上生长NbN薄膜有较大的晶格失配度,会导致NbN薄膜中存在一定厚度非超导的界面畸变层,严重降低NbN的超导性能。而TiN和NbN同属面心立方结构,而且晶格失配度较小,因此使用TiN过渡层大幅减小了NbN薄膜中的界面畸变层厚度,同时NbN结晶性得到改善,从而提高了其超导性能;并且NbTiN本身是一种Tc较高的超导材料,TiN中的Ti和N两种元素即使进入到NbN薄膜不会降低,反而会提升其超导性能。同时,本发明还提出了该硅基氮化铌薄膜超导材料的制作方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮化 薄膜 超导 材料 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种硅基氮化铌薄膜超导材料,其特征在于:包括抛光硅单晶基底、位于该硅单晶基底上的氮化钛过渡层,以及位于该氮化钛过渡层上的氮化铌层。
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