[发明专利]存储器测试系统以及存储器测试方法

摘要

本发明提供一种存储器测试系统以及存储器测试方法。存储器测试系统包括控制单元、数据读取通道、数据写入通道以及测试通道。控制单元产生并输出第一读取指令和第一写入指令。数据读取通道和数据写入通道耦接至存储单元，并且控制单元根据第一读取指令和第一写入指令而分别地在第一时刻从存储单元读取数据且在第二时刻将数据写回至存储单元。测试通道通过输入端从数据读取通道接收数据，且测试通道在一延迟时间之后通过输出端输出数据而返回至数据写入通道。上述时间延迟等于第一时刻与第二时刻之间的时间间隔。

主权项

一种存储器测试系统，用于测试一存储单元，其特征在于，该存储器测试系统包括：一控制单元，根据一外部指令产生并输出一第一读取指令和一第一写入指令；一数据读取通道，耦接至该存储单元和该控制单元，并根据该第一读取指令从该存储单元读取数据；一数据写入通道，耦接至该存储单元和该控制单元，并根据该第一写入指令将数据写入至该存储单元；以及一测试通道，耦接至该数据读取通道和该数据写入通道，且该测试通道具有一输入端和一输出端，其中该输入端从该数据读取通道接收数据，且该输出端将数据传回至该数据写入通道，在一延迟时间之后该数据写入通道接收到数据；其中，每当通过该控制单元接收到该外部指令时，产生该第一读取指令与该第一写入指令，且分别地输出至该数据读取通道与该数据写入通道，该数据读取通道在该第一时刻接收该第一读取指令而早于该数据写入通道在该第二时刻接收该第一写入指令，该第一时刻与该第二时刻之间的一时间间隔等于该时间延迟，且该时间间隔包括通过该控制单元的该第一写入指令的一产生时间和一可编程偏移时间。