[发明专利]一种晶圆自对准硅通孔连接方法无效
申请号: | 201310012190.4 | 申请日: | 2013-01-14 |
公开(公告)号: | CN103066016A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 李平 | 申请(专利权)人: | 陆伟 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 200124 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种晶圆自对准硅通孔连接方法,包括以下步骤:将内部均淀积有用作刻蚀停止层的金属的两片晶圆键合连接;将顶层晶圆减薄;通过图形化工艺在顶层晶圆表面上制作图案,定位通孔制作区域;从顶层晶圆到底部晶圆之间制作通孔;清洗通孔;在通孔底部和侧壁上淀积一层阻挡层和种子层;在通孔里面淀积金属,填充通孔;顶层晶圆表面平坦化。本发明的有益效果是,将顶层晶圆减薄,降低制作通孔的深度,使得蚀刻容易进行,并且通孔易填充;使用金属作为停止层实现的晶圆自对准硅通孔连接方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 对准 硅通孔 连接 方法 | ||
【主权项】:
一种晶圆自对准硅通孔连接方法,其特征在于,包括以下步骤,步骤一:将内部均淀积有用作刻蚀停止层的金属的顶层晶圆和位于所述顶层晶圆下方的底层晶圆键合连接;步骤二:将所述顶层晶圆减薄;步骤三:在所述顶层晶圆朝外的表面上制作图案,定位通孔制作区域;步骤四:从所述顶层晶圆到底部晶圆之间制作通孔;步骤五:清洗通孔;步骤六:在通孔底部和侧壁上淀积一层阻挡层和种子层;步骤七:在通孔里面淀积金属,填充通孔;步骤八:去除顶层晶圆朝外的表面上的金属,将顶层晶圆朝外的表面平坦化。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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