[发明专利]安全芯片的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201210576725.6 | 申请日： | 2012-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103077343A | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 宋小伟;张炜;张君迈 | 申请（专利权）人： | 北京华大信安科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/44 | 分类号： | G06F21/44 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;许伟群 |
| 地址： | 100015 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种安全芯片的测试方法及装置。所述方法包括：接收输入的预设测试准入代码；接收进入芯片测试模式的测试准入口令；根据所述测试准入口令计算得到测试准入代码；如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配成功，进入测试项的测试模式。本发明实施例还公开了一种安全芯片测试的装置。本发明实施例所提供的安全芯片的测试方法及装置，通过对每颗芯片预先设置唯一的测试准入代码，增加了安全芯片的测试准入机制，在测试完成后，清除预设的测试准入代码，而且对清除的次数做了限制，提高了芯片的安全性，使得测试不可逆，而且无需破坏测试电路，提高了测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 安全 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种安全芯片的测试方法，其特征在于，包括：接收输入的预设测试准入代码；接收进入芯片测试模式的测试准入口令；根据所述测试准入口令计算得到测试准入代码；如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配成功，进入测试项的测试模式。
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