[发明专利]安全芯片的测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及微电子芯片技术领域，更具体而言，涉及一种安全芯片的测试方法及装置。

背景技术

芯片测试是芯片研发和产品化过程中的一个重要环节，芯片的测试一般要求达到真实反映芯片好坏情况的目的。对于安全类芯片的测试，由于涉及安全性的问题，除了要保证测试覆盖率完整和测试项可测试，还要求在测试过程中没有数据的泄漏，在完成测试后，需要销毁所有的测试代码，而且要求测试电路的功能是不可逆的。

现有的芯片测试技术，测试通路采用保险电路连接，芯片即可进入测试状态，缺少准入机制；在测试完成后，采用切断保险电路的方式切断测试电路，而芯片测试包括圆片测试和封装测试两个阶段，在圆片测试完成后，通过物理隔断的方式断开圆片测试电路，而在封装测试阶段还需要进行圆片测试，此时圆片测试电路已经断开，无法恢复测试电路，所以封装测试阶段无法进行圆片测试的测试项目，只能进行部分功能测试，造成封装测试阶段的测试不完整，而且这种通过物理隔断的方式切断测试电路的方式，攻击者通过FIB(聚焦离子束，Focused Ion beam)可以修复芯片的测试功能。因此，现有的芯片测试技术，芯片的安全性差，而且测试覆盖率低。

发明内容

本发明实施例提供一种安全芯片的测试方法及装置，提高了芯片的安全性，提高了测试覆盖率。

一方面，本发明实施例提供了一种安全芯片的测试方法，包括接收输入的预设测试准入代码；接收进入芯片测试模式的测试准入口令；根据所述测试准入口令计算得到测试准入代码；如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配成功，进入测试项的测试模式。

可选的，在测试项测试完成后，清除所述预设测试准入代码。

可选的，所述在测试项测试完成后，清除所述预设测试准入代码，具体包括：在测试项测试完成后，芯片自动清除所述预设测试准入代码。

可选的，在测试项测试完成后，所述方法还包括：接收清除预设测试准入代码的指令；所述清除所述预设测试准入代码具体为：根据所述指令清除所述预设测试准入代码。

可选的，如果所述测试准入代码与所述预设测试准入代码匹配不成功，清除所述预设测试准入代码；记录清除所述预设测试准入代码的次数；当所述次数到达预设阈值时，芯片进行报警。

另一方面，本发明实施例还提供了一种安全芯片的测试装置，包括：第一接收单元：用于接收输入的预设测试准入代码；第二接收单元：用于接收进入芯片测试模式的测试准入口令；计算单元：用于根据所述第二接收单元接收到的测试准入口令计算得到测试准入代码；匹配单元：用于匹配所述第一接收单元接收到的测试准入代码和所述计算单元计算得到的预设测试准入代码；进入测试模式单元：用于在所述匹配单元匹配所述测试准入代码与所述预设测试准入代码成功后，进入测试项的测试模式。

可选的，所述装置还包括：第一清除单元：用于在测试项测试完成后，清除所述预设测试准入代码。

可选的，所述第一清除单元具体用于：在测试项测试完成后，自动清除所述预设测试准入代码。

可选的，所述第二接收单元：还用于在测试项测试完成后，接收清除预设测试准入代码的指令；所述第一清除单元：还用于根据所述第二接收单元接收到的指令清除所述预设测试准入代码。

可选的，所述装置还包括：第二清除单元：用于如果所述匹配单元匹配不成功，清除所述预设测试准入代码；记录单元：用于记录所述第二清除单元清除所述预设测试准入代码的次数；报警单元：用于在所述记录单元记录所记次数达到阈值时，进行报警。

由以上技术方案可知，本发明实施例所提供的安全芯片的测试方法及装置，通过对芯片预先设置测试准入代码，增加了安全芯片的测试准入机制，在测试完成后，清除预设的测试准入代码，而且对清除的次数做了限制，提高了芯片的安全性，使得测试不可逆，提高了测试覆盖率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。通过附图所示，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

图1为本发明实施例提供的安全芯片的测试方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的安全芯片的测试方法的另一种流程图；

图3为本发明实施例提供的安全芯片的测试装置的结构示意图；