[发明专利]一种连续量测结构构件局部几何初始缺陷的装置及方法无效
| 申请号： | 201210559407.9 | 申请日： | 2012-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN103063172A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 王元清;袁焕鑫;石永久 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 张文宝 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于结构工程钢结构技术领域，尤其涉及一种连续量测结构构件局部几何初始缺陷的装置及方法。利用步进电机驱动的导轨，结合工程试验中常用的数字位移传感器，固定于结构构件表面后，启动步进电机带动位移传感器匀速缓慢滑移，实现对结构构件特定截面上的局部几何初始缺陷的连续量测，配套的数据采集系统可以实时连续采集数据并绘制缺陷形态曲线，在对实测曲线进行起始点修正后，可以准确得到构件截面上的缺陷形态分布曲线。本发明所采用的量测装置和设备操作简单，量测精度较高，所测得的结构构件局部几何初始缺陷结果可以在结构构件稳定性试验研究与计算分析推广应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 连续 结构 构件 局部 几何 初始 缺陷 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种连续量测结构构件局部几何初始缺陷的装置，其特征在于，步进电机导轨（2）固定在平躺搁置的结构构件（1）上；步进电机导轨（2）上安装导轨滑块（6），步进电机导轨（2）的一端与步进电机（7）连接；带有可调导杆（8）的磁座（5）将位移传感器（3）和导轨滑块（6）连接固定；位移传感器（3）与数据采集系统（4）连接。
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