[发明专利]一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法有效
申请号: | 201210512946.7 | 申请日: | 2012-12-05 |
公开(公告)号: | CN103018142A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 曲丽伟;梁贵振;夏军;杨正宏;叶小迷;张向峰;苏燕;张强 | 申请(专利权)人: | 平顶山易成新材料股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N1/28 |
代理公司: | 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) 41120 | 代理人: | 李宗虎 |
地址: | 467013 河南省平顶*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法,步骤如下:将待检测样品放置在容器内,加入纯水,然后搅拌,备用,然后将容器放置在超声细胞粉碎放置隔音箱内分散处理,第一次处理完成后取出静置1-2min后,再次向容器内加入纯水,加入纯水的质量是容器内碳化硅微粉浆料质量的0.1-0.2倍,摇晃均匀后备用,再次进行超声分散处理,处理完成,碳化硅溶液分散完毕,备用;采用COULTER颗粒计数仪进行碳化硅微粉粒度的检测;该方法在碳化硅微粉粒径检测中首次采用多次的超声细胞粉碎震荡处理,并且调整最佳震荡功率和处理时间,以间歇性方式对碳化硅微粉的团聚颗粒进行分散处理,该方法最大化降低假性的“大颗粒”的存在,提高检测精度和检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 电阻 检测 碳化硅 粒度 方法 | ||
【主权项】:
一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法,其特征在于:步骤如下:步骤一:从生产出的一批次碳化硅微粉中抽取一部分作为待检测样品,备用;步骤二:将待检测样品放置在容器内,加入纯水,水温控制在25‑35℃,加入纯水的质量是待检测样品质量的1000‑5000倍,然后搅拌5—10min,备用;步骤三、将容器放置在超声细胞粉碎隔音箱内的升降台上,抬升升降平台使超声探头浸入液面下1.0‑1.5cm,输出超声功率为325W,对碳化硅溶液进行3‑5min超声处理,处理完成,备用;步骤四、将步骤三处理后容器取出静置1‑2min后,再次向容器内加入纯水,加入纯水的质量是容器内碳化硅微粉浆料质量的的0.1‑0.2倍,摇晃均匀后备用;步骤五、将该容器再次放入超声细胞粉碎隔音箱内的升降台上,抬升升降平台使超声探头浸入液面下1.5‑2.5cm,输出超声功率为350W,对碳化硅溶液进行3‑5min超声处理,处理完成,碳化硅溶液分散完毕,备用;步骤六、预先开启COULTER颗粒计数仪,预热30min后,向COULTER颗粒计数仪的样品杯中事先加入100—250ml质量浓度为0.9%的生理盐水,同时在样品杯中搅拌器的搅拌速度为28‑32r/min的条件下,用胶头滴管将步骤五分散处理好的碳化硅微粉浆料滴加0.5‑2ml于样品杯中,测量后保存数据,即完成碳化硅微粉粒度的检测。
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