[发明专利]提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺无效
| 申请号： | 201210422225.7 | 申请日： | 2012-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN102896378A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 凌四营;王立鼎;娄志峰;马勇;王晓东 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | B23F5/02 | 分类号： | B23F5/02 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 李宝元 |
| 地址： | 116024*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺，先建立单面展成磨齿法中齿圈径向跳动偏差与左右齿面距累积总偏差的映射关系，确定影响齿圈径向跳动偏差的关键参数，即左右两次磨齿齿坯对应于分度盘同一位置的错位齿数i0；然后根据已精加工的齿坯右齿面的齿距累积总偏差曲线中一次正弦波分量的初始相位角确定待加工齿坯的左齿面的错位齿数i0；最后将齿坯翻转180°同时逆时针方向转过i0齿，再进行左齿面的精加工。本发明在被加工齿轮存在较大的齿距累积总偏差的情况下，通过确定并选择合适的错位齿数i0，使左右齿面的齿距累积误差曲线具有相同的变化趋势，仍可获得较小的齿圈径向跳动偏差。方法简便，效果明显，具有重要的工程应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 径向 跳动 加工 精度 错位 工艺 | ||
【主权项】：
一种提高齿圈径向跳动加工精度的错位磨齿工艺，其特征包括以下步骤，(1)建立单面展成磨齿法中齿圈径向跳动偏差与左右齿面距累积总偏差的映射关系，确定影响齿圈径向跳动偏差的关键参数，即左右两次磨齿齿坯对应于分度盘同一位置的错位齿数i0；(2)根据已精加工的齿坯右齿面的齿距累积总偏差曲线中一次正弦波分量的初始相位角确定待加工齿坯的左齿面的错位齿数i0；(3)将齿坯翻转180°的同时，逆时针方向转过i0齿，再进行左齿面的精加工。
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