[发明专利]一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法

摘要

本发明提供的是一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法。包括宽谱光源（301）、起偏器（311）、待测偏振器件（632）、光程相关器（640）、偏振串扰检测与信号记录装置（150），宽谱光源（301）通过起偏器（311）、第1旋转连接器（631）与待测光纤器件（632）连接后，再通过第2旋转连接器（633）与光程相关器（640）连接。本发明可以极大地抑制噪声幅度，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，广泛用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析中。

主权项

一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置，包括宽谱光源（301）、起偏器（311）、待测偏振器件（632）、光程相关器（640）、偏振串扰检测与信号记录装置（150），其特征是：（1）宽谱光源（301）通过起偏器（311）、第1旋转连接器（631）与待测光纤器件（632）连接后，再通过第2旋转连接器（633）与光程相关器（640）连接；（2）所述光程相关器（640）由1×2偏振分束器（641）、三端口环形器（645）、自聚焦准直透镜（647）、可移动光学反射镜（648）、2×2光纤耦合器（649）、第1光电探测器（651）、第2光电探测器（652）组成；偏振分束器（641）的第1输出端（ps2）连接光纤耦合器（649）的第1输入端（c1），组成固定长度光程相关参考臂（ps2+c1）；偏振分束器（641）的第2输出端（ps3）连接环形器（645）的输入端（cr1），环形器（645）的第1输出端（cr2）连接准直透镜（647）和可移动光学反射镜（648）；环形器（645）的第2输出端（cr3）连接耦合器（649）的第2输入端（c2），组成光纤长度可变的光程相关扫描臂（ps3+cr1+2cr2+2gr1+2x+cr3+c2）；光纤耦合器（649）的第1、第2输出端（c3、c4）分别连接第1、第2探测器（651、652）；第1、第2探测器（651、652）、可移动光学反射镜（648）分别与偏振串扰检测与信号记录装置（150）连接；（3）线偏振光信号注入到1×2偏振分束器（641）的第1输入尾纤（ps1）的慢轴中，信号光仅从第1输出尾纤（ps2）的慢轴中输出；注入到第1输入尾纤（ps1）的快轴中，仅从第2输出尾纤（ps3）的慢轴中输出。