[发明专利]一种掩模光栅对准标记倾斜成像的消除方法无效

专利信息
申请号: 201210321230.9 申请日: 2012-09-03
公开(公告)号: CN102799080A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 朱江平;胡松;唐燕;陈铭勇;何渝 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;贾玉忠
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种掩模光栅对准标记倾斜成像的消除方法,包括步骤:对倾斜条纹进行傅里叶变换、相位提取、相位展开、45°和135°条纹空间频率计算、条纹倾角计算、调整CCD图像探测器。采用CCD图像探测器对掩模光栅对准标记成像,通过傅里叶变换分析光栅条纹的相位信息,得到连续的条纹相位;以展开相位为载体,提取45°和135°条纹空间频率,间接计算条纹的倾角。然后调整CCD图像探测器获取掩模光栅对准标记的像,继续执行倾角计算,从而实现掩模光栅对准标记的正确成像,满足对准系统的要求。本发明充分利用倾斜条纹45°和135°两个正交方向上的相位信息计算条纹的倾角,方法简单,精度高,完全可以通过条纹的倾角实现CCD图像探测器的位置标定。
搜索关键词: 一种 光栅 对准 标记 倾斜 成像 消除 方法
【主权项】:
1.一种掩模光栅对准标记倾斜成像的消除方法,其特征在于:所述方法包括步骤:步骤S1:掩模光栅对准标记位置固定不变,利用CCD探测器件获取掩模光栅对准标记条纹像;步骤S2:采用傅里叶变换分析步骤S1获得的条纹像的相位;步骤S3:将步骤S2傅里叶变换后条纹像的包裹相位展开,得到连续的相位分布;步骤S4:通过展开后的相位,计算45°和135°两个正交方法上的条纹空间频率步骤S5:通过45°和135°两个正交方法上的条纹空间频率,计算条纹的倾角;步骤S6:以条纹的倾角,调整CCD探测器的位置;循环执行上述六个步骤,至到条纹倾角达到某一设定阈值为止。
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