[发明专利]一种掩模光栅对准标记倾斜成像的消除方法无效
申请号: | 201210321230.9 | 申请日: | 2012-09-03 |
公开(公告)号: | CN102799080A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 朱江平;胡松;唐燕;陈铭勇;何渝 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F9/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;贾玉忠 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种掩模光栅对准标记倾斜成像的消除方法,包括步骤:对倾斜条纹进行傅里叶变换、相位提取、相位展开、45°和135°条纹空间频率计算、条纹倾角计算、调整CCD图像探测器。采用CCD图像探测器对掩模光栅对准标记成像,通过傅里叶变换分析光栅条纹的相位信息,得到连续的条纹相位;以展开相位为载体,提取45°和135°条纹空间频率,间接计算条纹的倾角。然后调整CCD图像探测器获取掩模光栅对准标记的像,继续执行倾角计算,从而实现掩模光栅对准标记的正确成像,满足对准系统的要求。本发明充分利用倾斜条纹45°和135°两个正交方向上的相位信息计算条纹的倾角,方法简单,精度高,完全可以通过条纹的倾角实现CCD图像探测器的位置标定。 | ||
搜索关键词: | 一种 光栅 对准 标记 倾斜 成像 消除 方法 | ||
【主权项】:
1.一种掩模光栅对准标记倾斜成像的消除方法,其特征在于:所述方法包括步骤:步骤S1:掩模光栅对准标记位置固定不变,利用CCD探测器件获取掩模光栅对准标记条纹像;步骤S2:采用傅里叶变换分析步骤S1获得的条纹像的相位;步骤S3:将步骤S2傅里叶变换后条纹像的包裹相位展开,得到连续的相位分布;步骤S4:通过展开后的相位,计算45°和135°两个正交方法上的条纹空间频率
和
步骤S5:通过45°和135°两个正交方法上的条纹空间频率,计算条纹的倾角;步骤S6:以条纹的倾角,调整CCD探测器的位置;循环执行上述六个步骤,至到条纹倾角达到某一设定阈值为止。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210321230.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型全自动泵式搅拌脱气装置
- 下一篇:一种LED灯