[发明专利]采用EBSD定量评价钢中残余奥氏体的方法有效
申请号: | 201210233280.1 | 申请日: | 2012-07-05 |
公开(公告)号: | CN102735703A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 孟杨;崔桂彬;郝京丽;鞠新华 | 申请(专利权)人: | 首钢总公司 |
主分类号: | G01N23/203 | 分类号: | G01N23/203 |
代理公司: | 北京华谊知识产权代理有限公司 11207 | 代理人: | 刘月娥 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种采用EBSD定量评价钢中残余奥氏体的方法,属于钢中组织测量技术领域。此方法是对去除应力的样品表面作面扫描获得背散射衍射信号,利用衍射信号区分各相,找出残余奥氏体并且勾勒出所有残余奥氏体晶粒。再经过数据处理和统计给出各种形态的残余奥氏体的含量。它利用EBSD信号代替光学信号显示组织,并且利用取向差定义晶界,能够准确的鉴别各相并且区分多个相邻晶粒,优点在于解决了TRIP钢中残余奥氏体形态的定量评价问题,克服了光学方法中组织混淆的问题,实现了残余奥氏体形态的准确定量。 | ||
搜索关键词: | 采用 ebsd 定量 评价 残余 奥氏体 方法 | ||
【主权项】:
一种采用EBSD定量评价钢中残余奥氏体的方法,其特征在于,具体工艺步骤如下:(1)取样:取待测样品小试样,试样为薄片状,厚度h 0.25mm~2mm,表面积0.25 cm2~5cm2;上下表面平行,待测表面精抛光,使待测表面平整无应力;(2)设置扫描参数:在场发射扫描电镜上使用3#物镜光阑约束电子束直径,调整束流10μA~20μA;在上述条件下,电子束直径为50nm~100nm,设定步长50nm~100nm;(3)扫描:在1000~4000倍的放大倍数下作全视场的EBSD面扫描,记录标定数据;(4)数据处理:去除扫描结果中的误标点和奇异点之后逐级去除噪点,得到完整的面扫描结果;(5)统计分析:统计所有残余奥氏体晶粒的长宽比r和晶粒尺寸d,列出长宽比r和晶粒尺寸d分布图。
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