[发明专利]从曝光结果改进光学邻近模拟的方法有效
申请号: | 201210174744.6 | 申请日: | 2012-05-31 |
公开(公告)号: | CN103019027A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 黄登烟 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36;G03F7/20 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种用以改进光学邻近模拟的方法,其包含下列步骤:首先,判定多个曝光数据;提供对应所述曝光数据且从多个原始模拟参数中产生的一原始模拟结果。之后,检验来自所述原始模拟结果与所述曝光结果的原始误差值来判定其是否位于一预定范围内。接下来,所述原始模拟参数会被调整来获得调整后的模拟参数。所述调整后误差值位于预定范围内的调整后模拟参数会被收集来获得一用以在光掩模上输出图形的光学邻近修正模型。 | ||
搜索关键词: | 曝光 结果 改进 光学 邻近 模拟 方法 | ||
【主权项】:
一种从曝光结果改进光学邻近模拟以在光掩模上输出图形的方法,其特征在于,包含:判定来自一曝光结果的曝光信息的多个曝光数据;提供对应所述曝光结果且从多个原始模拟参数所产生的一原始模拟结果;检验从所述原始模拟结果及从所述曝光结果所获得的一原始误差值是否位于一预定范围内;调整所述多个原始模拟参数以获得调整后的模拟参数及一调整后的模拟结果,并在所述原始误差值未位于所述预定范围内时检验从所述调整后模拟结果以及从所述曝光结果所获得的一调整后误差值;调整所述调整后模拟参数直到所述调整后误差值位于所述预定范围内为止;以及收集所述调整后误差值位于所述预定范围内的所述调整后模拟参数,以获得用以在光掩模上输出图形的一光学邻近修正模型。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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