[发明专利]一种DSP调试装置

摘要

本发明提供一种DSP调试装置，包括AHB_COMPACT_MAST和AHB_COMPACT_SLAVE两个子模块。该装置作为独立的IP模块级联于片上AHB总线，通过AHB_COMPACT接口与片外设备通信；该装置同时作为片外调试单元的一部分，完成AHB_COMPACT接口到AHB接口的变换。AHB_COMPACT_MAST模块连接片上AHB总线的MAST接口，将其转换为AHB_COMPACT接口，与片下测试模块相连。AHB_COMPACT_SLAVE连接片上AHB总线的SLAVE接口，将其转换为AHB COMPACT接口，与片下的测试模块相连。所述的DSP调试装置通过两个状态机AHB_COMPACT_MAST_FSM和AHB_COMPACT_SLAVE_FSM，完成所述两个模块在不同的AHB传输模式下的数据传输。片下调试单元只需在片外系统中同样使用该装置进行AHB_COMPACT接口信号到AHB接口信号的转换，便可完成DSP片上系统与片外AHB设备的通信。本发明提供了更加灵活高效、实时性更好和吞吐量更大的DSP调试装置，同时又大大节省了总线资源。

主权项

一种DSP调试装置，其特征在于，包括具有AHB_COMPACT接口的AHB_COMPACT_MAST模块和AHB_COMPACT_SLAVE模块，进一步地，通过AHB_COMPACT_SLAVE_FSM状态机和AHB_COMPACT_MAST_FSM状态机将DSP片上系统与片下测试系统的读写时序，从AHB协议接口转换到AHB_COMPACT接口，完成所述AHB_COMPACT_MAST模块、以及AHB_COMPACT_SLAVE模块在不同的AHB传输模式下的数据传输，其中：所述AHB_COMPACT_SLAVE模块，用于连接片上AHB总线的SLAVE接口，将其转换为AHB_COMPACT接口，与片下的测试系统相连，使得片下AHB MASTER模块能够通过此通路与片上AHB SLAVE模块进行数据交互；所述AHB_COMPACT_MAST模块，用于连接片上AHB总线的MAST接口，将其转换为AHB_COMPACT接口，与片下测试系统相连，使得片上AHB MASTER模块能够与片下AHB SLAVE模块进行数据交互；所述AHB_COMPACT_SLAVE_FSM状态机对应于所述AHB_COMPACT_SLAVE模块；所述AHB_COMPACT_MAST_FSM状态机对应于AHB_COMPACT_MAST模块。