[发明专利]检测存储器元件的功能能力的方法

摘要

本发明涉及一种检测存储器元件的功能性能力的方法，该存储器元件具有一栈存储器(SA)，其中该栈存储器(SA)占据该存储器元件内的一限定区域，并且其中定义了一栈存储器指针，以地址的形式显示数据正被从该位置移出或者向该位置写入的栈存储器的位置。本发明的区别特征包括：在该存储器元件中，位于一待检测存储区域之外的限定长度的一个区被划定，并被用作一辅助存储器(HS)；在用于检测存储器元件的一测试程序启动之前，该栈存储器指针的当前地址被保存，然后该栈存储器指针被分配一与该辅助存储器(HS)相关联的地址，从而在该测试程序期间，该辅助存储器(HS)被作为工作存储器；并且在该测试程序终止以后，该栈存储器指针被重新分配在测试程序启动之前显示的那个位置的地址。

主权项

一种检测具有栈存储器(SA)的存储器元件的功能能力的方法，其中，所述栈存储器占据所述存储器元件内的限定区域，并且其中，定义了栈存储器指针，所述栈存储器指针以地址的形式显示数据正在其移出或者对其写入的栈存储器位置，其特征在于，在所述存储器元件中，限定长度的第一区被划定，并且用于存储至少一个签名(S1、S2、S3)，所述至少一个签名(S1、S2、S3)包括与检测所述存储器元件的功能能力相关的数据；在所述存储器元件中，限定长度的第二区被划定，并且用作辅助存储器(HS)，其中，以下述方式选择所述第一区和所述第二区的位置：使得所述第一区和所述第二区彼此邻接，并且位于待检测存储器区域外部；所述待检测存储器区域由模块化构造的测试程序来检测，其中，在所述测试程序启动之前，存储所述栈存储器指针的当前地址，并且然后对所述栈存储器指针指派与所述辅助存储器(HS)相关联的地址，使得在所述测试程序期间，所述辅助存储器(HS)用作工作存储器；并且在所述测试程序终止之后，对所述栈存储器指针重新指派在所述测试程序启动之前由所述栈存储器指针显示的那个位置的地址。