[发明专利]利用连续波激光以及光电倍增管的光谱分析装置有效
| 申请号： | 201110421444.9 | 申请日： | 2011-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN102841076A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 朴起弘;郭智贤 | 申请（专利权）人： | 光州科学技术院 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 张颖玲;武晨燕 |
| 地址： | 韩国光*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明揭示一种利用连续波激光及光电倍增管的光谱分析装置。更详细而言，本发明所涉及的光谱分析装置包括：连续波激光照射部，其向所导入的粒子照射连续波激光；散射光测定部，其对粒子被连续波激光照射而从粒子生成的散射光进行测定；触发信号生成部，其在由散射光测定部测定出的测定值为预先设定的值以上的情况下生成触发信号；脉冲激光照射部，其接收触发信号来向粒子照射脉冲激光；以及光谱分析部，其对粒子被脉冲激光照射而从粒子生成的原子光谱线进行测定来分析粒子的元素成分。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 连续 激光 以及 光电倍增管 光谱分析 装置 | ||
【主权项】：
一种光谱分析装置，其特征在于，包括：连续波激光照射部，其向所导入的粒子照射连续波激光；散射光测定部，其对上述粒子被上述连续波激光照射而从上述粒子生成的散射光进行测定；触发信号生成部，其在由上述散射光测定部测定出的测定值为预先设定的值以上的情况下生成触发信号；脉冲激光照射部，其接收上述触发信号来向上述粒子照射脉冲激光；以及光谱分析部，其对上述粒子被上述脉冲激光照射而从上述粒子生成的原子光谱线进行测定来分析上述粒子的元素成分。
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