[发明专利]半导体元件的序号制定方法、制定设备及其辨识设备有效
申请号: | 201110294246.0 | 申请日: | 2011-09-26 |
公开(公告)号: | CN103022239A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 王博文;陈建文;林纲正 | 申请(专利权)人: | 茂迪股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体元件的序号制定方法、制定设备及其辨识设备,所述方法包括下列步骤:建立一数据库,用于储存该半导体元件的制程条件及制造日期;将该半导体元件定义出多个相邻的受测部;检测半导体元件的各个受测部的物理性质,并依据其物理性质而给予每一个受测部一个检测码,再将各个检测码连续排列而成为该半导体元件的序号;将该序号储存到该数据库,使该序号与所述制程条件及制造日期之间产生对应性。上述方法的进行方式简单、成本低、不须改变元件制造流程,对于元件性能也不会有影响。本发明还提供一种用于制定序号的设备及一种用于辨识序号的设备。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 序号 制定 方法 设备 及其 辨识 | ||
【主权项】:
一种半导体元件的序号制定方法,用于制定一个半导体元件的序号,其特征在于,该半导体元件的序号制定方法包括下列步骤:步骤A:建立一个数据库来储存该半导体元件的制程条件及制造日期的数据;步骤B:将该半导体元件定义出多个相邻的受测部;步骤C:检测该半导体元件的各个受测部的物理性质,并依据各个受测部的物理性质而给予每一个受测部一个检测码,再将各个受测部的检测码连续排列而成为该半导体元件的序号;步骤D:将该半导体元件的序号储存到该数据库,使该序号与该半导体元件的制程条件及制造日期之间产生对应性。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的