[发明专利]一种基于功率因素校正的高效调功装置无效

专利信息
申请号: 201010537163.5 申请日: 2010-11-10
公开(公告)号: CN101976958A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 程玉华;白利兵;周科;陈凯 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H02M5/458 分类号: H02M5/458;H02M1/42
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于功率因素校正的高效调功装置,包括:前端功率因素校正电路、后端功率调节电路和微控制器。通过相位捕获模块捕获从电网获得的正弦电压Uac的过零点,通过采样模块获得整流后的直流电压Ui、电流Ii及储能电容两端的电压Uc和绝缘栅双极型晶体管Q1、Q4或Q2、Q3导通时的输出电流Ic;然后输出脉冲触发信号J,控制前端功率因素校正电路中金属氧化物半导体场效应管的通断,输出脉冲触发信号J1、J4分别给绝缘栅双极型晶体管Q1、Q4,输出在时序上比脉冲触发信号J1、J4延迟1/2Tc,占空比相同的脉冲触发信号J2、J3分别给绝缘栅双极型晶体管Q2、Q3,控制绝缘栅双极型晶体管Q1~4的通断,最终使高效调功装置在输出负载所需较大功率的同时,保证近似为1的功率因数和极低的谐波分量。
搜索关键词: 一种 基于 功率 因素 校正 高效 装置
【主权项】:
1.一种基于功率因素校正的高效调功装置,包括:一前端功率因素校正电路;前端功率因素校正电路包括全桥整流电路、储能电感、金属氧化物半导体场效应管(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor,MOSFET),二极管以及储能电容;从电网获得的正弦电压Uac经过全桥整流电路后,输出直流电压Ui,然后,经储能电感一路输给二极管正端,再从二极管负端输出给储能电容正端,储能电容的负端接地,另一路输出到金属氧化物半导体场效应管的漏极,金属氧化物半导体场效应管的源极接地;其特征在于,还包括:一后端功率调节电路;后端功率调节电路包括四只绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)Q1~4和变压器;储能电容的正端分别接两只绝缘栅双极型晶体管Q1、Q2的集电极,然后这两只绝缘栅双极型晶体管Q1、Q2的发射极分别接另两只绝缘栅双极型晶体管Q3、Q4的集电极并同时分别接变压器的初级两端,另两只绝缘栅双极型晶体管Q3、Q4的发射极接地,变压器的次级输出给用电设备;一微控制器;微控制器中包括相位捕获模块、采样模块;相位捕获模块用于捕获从电网获得的正弦电压Uac的过零点,采样模块用于采集整流后的直流电压Ui、电流Ii及储能电容两端的电压Uc和绝缘栅双极型晶体管Q1、Q4或Q2、Q3导通时的输出电流Ic;微控制器输出脉冲触发信号J给前端功率因素校正电路中金属氧化物半导体场效应管的栅极,其占空比为:其中:Ts=Ti/N,式(1)中,Ts表示金属氧化物半导体场效应管完成一次通断操作的控制周期,Ti表示从电网获得的正弦电压Uac的相邻两次过零点间的时间间隔,N为每一个Ti时间间隔内对金属氧化物半导体场效应管的控制次数,Uim是上一个时间间隔Ti采集直流电压Ui计算得到的幅值,Ucset为储能电容两端的电压Uc的期望值,为根据设计确定的一个常量,n表示Ui过零点后的第n个控制周期,相应的D(n)表示第n个控制周期内脉冲触发信号的占空比,Ii(n)表示第n个控制周期开始时刻采样模块采集的整流后的直流电流Ii的值,Iset为设定电流的幅值,Pset是输出功率设定值,Uirms为整流后的直流电压Ui的有效值,Kp、Kpp为比例控制参数、Ki、Kip为积分控制参数,Ucavg为储能电容两端的电压Uc在一个Ti时间间隔内的平均值;式(1)中,表示:对整流后的直流电流Ii每个时间间隔Ti内的第n个控制周期的设定电流值与采集值的差值进行累加,式(1)中表示:对储能电容两端的电压Uc每个时间间隔Ti内期望值Ucset与平均值Ucavgm的差值进行累加;其中:t为调功装置本次运行已经持续的时间;为取小于t/Ti的最大整数;微控制器输出还输出脉冲触发信号J1~4分别给四只绝缘栅双极型晶体管Q1~4的栅极,其中脉冲触发信号J1、J4相同,其占空比为:Dc=12PsetUc×Ic,]]>且小于1/2        (2)脉冲触发信号J2、J3相同,其占空比与脉冲触发信号J1、J4相同,但在时序上比脉冲触发信号J1、J4延迟1/2Tc,Tc为脉冲触发信号J1~4的周期。
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