[发明专利]锣形超薄晶圆制备方法和技术有效
申请号: | 200910049356.3 | 申请日: | 2009-04-15 |
公开(公告)号: | CN101593676A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | 张健欣 | 申请(专利权)人: | 秦拓微电子技术(上海)有限公司;张健欣 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/08 |
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地址: | 201206上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明揭示了一种全新的、先进的半导体晶圆制备方法和相关技术,目的是节省宝贵的半导体原材料。重点包括:1.选用合适的材料制备晶圆支撑环,该支撑环具有较高的机械强度、抗弯强度、表面张力、化学惰性及与半导体材料良好的互融性。不同材质的晶圆(Si、GaAs、InP、Ge等)要选用与其相适应、互融性强的材料来制备支撑环。2.根据晶圆尺寸和对位边形状,制备形成相同尺寸、相同对位边形状的支撑环。3.利用激光熔融技术将超薄晶片焊接在支撑环上、制备成超薄晶圆。由上述方法和技术制备出的超薄晶圆,由支撑环提供了良好的机械强度、抗弯强度及表面张力等物理性质,使其可以在大规模集成电路制造加工过程中承受各种压力、冲击、高温等工艺处理过程,成为良好的半导体集成电路原始晶片。 | ||
搜索关键词: | 超薄 制备 方法 技术 | ||
【主权项】:
1、本发明是一种全新的、先进的半导体晶圆制备方法和相关技术,所述方法包括如下步骤:1-1)将晶棒经线切割、双面研磨等工艺加工后制备成厚度在150微米至200微米的超薄晶片。1-2)选用合适的材料制备出晶圆支撑环。1-3)将晶圆支撑环套在真空吸盘外缘并与真空吸盘外缘稍有间距、其表面高度与真空吸盘表面等高。再将超薄晶片放置在真空吸盘上并由真空吸附(克服超薄晶片可能存在的翘曲和变形),使超薄晶片平整的固定在真空吸盘上。1-4)从晶片上方投下光斑直径与支撑环宽度适配的激光束进行加热,该激光束的焦点穿透晶片聚焦在超薄晶片与支撑环的接触面。调整激光束能量使超薄晶片与支撑环的界面达到熔融状态、将该光斑范围的超薄晶片焊接在支持环上。1-5)匀速旋转真空吸盘、使激光束完成在支撑环表面一周的加热熔融作用,将整张超薄晶片的外环全部焊接在支撑环上。详见附图5(激光熔融焊接设备示意图)。1-6)放开真空、将锣形超薄晶圆从真空吸盘上取下。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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