[发明专利]SiCN膜形成方法及形成装置有效
申请号: | 200810080431.8 | 申请日: | 2008-02-18 |
公开(公告)号: | CN101252087A | 公开(公告)日: | 2008-08-27 |
发明(设计)人: | 周保华;长谷部一秀 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/318 | 分类号: | H01L21/318;C23C16/455;C23C16/36 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘春成 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种成膜方法,在处理区域内多次重复以下的循环从而在被处理基板上形成SiCN膜。各循环包括:供给包括硅烷类气体的第一处理气体的第一工序;供给包括氮化气体的第二处理气体的第二工序;供给包括烃气体的第三处理气体的第三工序;和隔断第一处理气体的供给的第四工序。在处理区域外不对第一、第二以及第三处理气体等离子体化而将它们供给处理区域,并且将处理区域加热至硅烷类气体与氮化气体以及烃气体相互反应的第一温度。 | ||
搜索关键词: | sicn 形成 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种SiCN膜形成方法,其特征在于:该方法是在能够有选择地供给包括硅烷类气体的第一处理气体、包括氮化气体的第二处理气体以及包括烃气体的第三处理气体的处理区域内,通过多次重复以下循环并层积在所述每个循环中所形成的薄膜,从而在被处理基板上形成具有规定厚度的SiCN膜的方法,此处,所述各个循环包括:向所述处理区域供给所述第一处理气体的第一工序;向所述处理区域供给所述第二处理气体的第二工序;向所述处理区域供给所述第三处理气体的第三工序;以及断开向所述处理区域供给所述第一处理气体的第四工序,在所述处理区域外不对第一、第二以及第三处理气体进行等离子体化而将其供给所述处理区域,并且在整个所述第一、第二、第三以及第四工序中,将所述处理区域加热至所述硅烷类气体与所述氮化气体以及所述烃气体相互反应的第一温度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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