[发明专利]一种测量粒子粒径的方法无效
| 申请号： | 200710040310.6 | 申请日： | 2007-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN101295024A | 公开（公告）日： | 2008-10-29 |
| 发明（设计）人： | 吴志军;田志松;黄成杰;李治龙;李理光 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01T5/00 | 分类号： | G01T5/00;G01T5/02;G01C11/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 吴林松 |
| 地址： | 20009*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 利用双目视觉匹配与粒子图像灰度差异测量粒径的方法，属于粒径光学测量技术领域，本方法根据不同前向角散射光具有光强差异的特点，利用配备双相机的粒子图像速度场仪成像系统获得流场经单次曝光形成的两幅具有灰度差异的粒子图像，经图像处理技术预处理后，根据双目视觉匹配原理，实现同一粒子在两幅粒子图像上对应两粒子像点的配对，由两粒子像点的灰度值总和经粒径求解公式得到粒子粒径大小，从而获得整个流场的粒度信息，本方法对激光光强和稳定性要求降低，粒子配对方法简便，减少了系统误差、数字图像处理技术以及激光衍射对粒径测量结果的影响，克服了现有技术中的不足和缺陷，具有实质性特点和显著进步。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 粒子 粒径 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量粒子粒径的方法，其特征在于：使用配备双相机的粒子图像速度场仪成像系统拍摄流场粒子图像，并利用双目视觉匹配与粒子图像灰度差异测量粒径。
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