[发明专利]荧光X射线分析装置有效
申请号: | 200680054176.9 | 申请日: | 2006-11-24 |
公开(公告)号: | CN101416047A | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 片冈由行;河野久征;山下升;堂井真 | 申请(专利权)人: | 理学电机工业株式会社 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人: | 刘激扬 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置,其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值,提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1),其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线,通过分光元件,对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光,通过X射线检测器进行检测,由此,对试样(S)进行分析,该装置包括X射线管(11),该X射线管(11)具有含铬的靶;X射线滤波器(13),其设置于X射线管(11)和试样(S)之间的X射线通路,相对来自X射线管(11)的Cr-Kα射线,具有规定的透射率,采用在S-Kα射线和Cr-Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质;比例计数管(18),其具有含氖气或氦气的检测器气体,该装置对试样(S)中包含的硫磺进行分析。 | ||
搜索关键词: | 荧光 射线 分析 装置 | ||
【主权项】:
1. 一种荧光X射线分析装置,其对试样照射来自X射线管的一次X射线,通过分光元件对从上述试样发生的荧光X射线进行分光,通过X射线检测器检测,由此,对上述试样进行分析,其特征在于包括:X射线管,该X射线管具有含铬的靶;X射线滤波器,其设置于上述X射线管和上述试样之间的X射线通路,相对来自上述X射线管的Cr-Kα射线,具有规定的透射率,采用在S-Kα射线和Cr-Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质;比例计数管,其具有含氖气或氦气的检测器气体;该装置对上述试样中包含的硫磺进行分析。
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- 本实用新型公开了一种X射线荧光光谱仪,包括:机台,样品台,X射线管发生装置,探测器,摄像头,移载切换装置以及控制装置;样品台水平设置于机台上;X射线管发生装置设置于机台上且位于样品台的正上方,X射线与样品台的上表面垂直,X射线管发生装置包含设置在机台上的射线管外壳,射线管外壳上设有用于供X射线穿过的射线出射口;摄像头连接在射线管外壳的下部;移载切换装置设置于射线管外壳与摄像头之间,用于驱动摄像头相对X射线管发生装置水平运动,进而使摄像头与射线出射口同轴或者错开;控制装置用于接收探测器采集的样品产生的荧光并进行分析;既能避免微距镜头采集的图像信息失真的情况,同时不影响射线管的工作效率。
- 一种基于XRF的微小型零件标签制作检测方法-201710082401.X
- 何卫平;张腾云;雷蕾;黄铃;李夏霜;窦欣 - 西北工业大学
- 2017-02-16 - 2019-09-24 - G01N23/223
- 本发明涉及一种基于XRF的微小型零件标签制作检测方法,通过在零件表面制作一种经过特殊设计的元素码标签,实现对零件的标识功能,标识功能的实现需借助XRF射线荧光光谱分析技术的成分检测功能,用于对各种材料微小型零件进行标识和全生命周期的追踪管理,实现在微小型零件上1*1mm尺寸内的标识。选取元素码配方组分,运用常温空气喷涂的方法制作元素码,并对零件上的元素码进行多点XRF检测获得多点的元素含量信息,运用统计方法计算元素码元素限,则该零件用元素码信息唯一表示,也可与数据库中零件二维码相关联。通过合理选择配方组分制作出不同的配方,实现上万批次的标识,实现小零件批次追踪管理,为工业化应用开辟了路径。
- 自动在线检测重金属的设备及方法、纺织品生产设备-201910449933.1
- 胡勇杰;韩健健;胡敏专 - 广东产品质量监督检验研究院
- 2019-05-28 - 2019-09-20 - G01N23/223
- 本发明涉及一种自动在线检测重金属的设备及方法、纺织品生产设备,通过样品转移装置将检测样品放上或取出检测分析装置的检测台,定位装置获取检测样品上的检测区域的位置信息,控制装置根据位置信息控制检测分析机构对检测区域进行检测,可实现纺织品上印花涂层中重金属自动在线检测。可帮助生产企业实现自动在线检测,有利于提高产品检测覆盖率,及时了解及控制产品中重金属种类及其含量,降低不合格产品的生产及召回风险,提高企业质量控制能力及效率。
- X射线荧光光谱法测定蛇纹石化学成分的方法-201910599716.0
- 周景涛;赵布和;张新林;郝丽蓉;魏古琳;孙志峰;马越 - 包头钢铁(集团)有限责任公司
- 2019-07-04 - 2019-09-20 - G01N23/223
- 本发明公开了一种用X荧光光谱法测定蛇纹石中二氧化硅、氧化镁、三氧化二铝含量的方法。与现有的检测技术相比较,本发明采用X射线荧光光谱法,克服了原有湿法化学分析方法操作复杂,分析时间长、使用试剂量大,易对环境造成污染等缺陷,实现了多元素同时测定,试剂用量少,操作安全环保的技术突破,具有分析速度快,样品熔融玻璃片保留时间长,分析精密度、准确度高,适合钢铁企业生产过程中现场快速分析的需求。
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