[发明专利]半导体光传感器装置有效
申请号: | 200610089849.6 | 申请日: | 2006-05-24 |
公开(公告)号: | CN1870280A | 公开(公告)日: | 2006-11-29 |
发明(设计)人: | 泷场由贵子;铃永浩 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 胡建新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供半导体光传感器装置,具有半导体基板;第一光电二极管,形成在半导体基板上;第二光电二极管,形成在半导体基板上;第一放大电路,形成在半导体基板上,放大来自第一光电二极管的光电流;第二放大电路,形成在半导体基板上,放大来自第二光电二极管的光电流,并具有与第一放大电路大致相同的放大特性;红外透射滤波器,设置在第二光电二极管上,使入射光中的可见光成分相对于红外光成分相对衰减;减法运算电路,形成在半导体基板上,输出第一放大电路的输出和第二放大电路的输出的差值;半导体基板上,第一光电二极管的中心和第二光电二极管的中心关于通过半导体基板中心的直线实质上对称地配置。 | ||
搜索关键词: | 半导体 传感器 装置 | ||
【主权项】:
1、一种半导体光传感器装置,其特征在于,包括:半导体基板;第一光电二极管,形成在所述半导体基板上;第二光电二极管,形成在所述半导体基板上;第一放大电路,形成在所述半导体基板上,放大来自所述第一光电二极管的光电流;第二放大电路,形成在所述半导体基板上,放大来自所述第二光电二极管的光电流,并具有与所述第一放大电路大致相同的放大特性;红外透射滤波器,设置在所述第二光电二极管上,使入射光中的可见光成分相对于红外光成分相对衰减;减法运算电路,形成在所述半导体基板上,输出所述第一放大电路的输出和所述第二放大电路的输出的差分;从所述半导体基板的第一侧面到所述第一光电二极管的中心的距离和从与所述半导体基板的所述第一侧面相对的第二侧面到所述第二光电二极管的中心的距离大致相等。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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