[发明专利]双镶嵌结构的制造方法有效
申请号: | 200510084847.3 | 申请日: | 2005-07-19 |
公开(公告)号: | CN1901156A | 公开(公告)日: | 2007-01-24 |
发明(设计)人: | 王志荣 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种双镶嵌结构的制造方法,首先,在衬底上依序形成阻障层、第一介电层、第二介电层、多层掩模层、第一底部抗反射层与图案化第一光致抗蚀剂层。接着。以图案化第一光致抗蚀剂层为掩模,进行蚀刻以得到第一沟槽结构。然后,形成第二底部抗反射层,以填满第一沟槽结构,并且覆盖多层掩模层的表面。接着,在第二底部抗反射层上形成图案化第二光致抗蚀剂层,并以图案化第二光致抗蚀剂层为掩模,进行蚀刻以得到第一介质窗结构。之后,蚀刻第一沟槽结构与第一介质窗结构,以得到第二沟槽结构与第二介质窗结构。 | ||
搜索关键词: | 镶嵌 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种双镶嵌结构的制造方法,包括:在一衬底上形成一阻障层;在该阻障层上形成一第一介电层;在该第一介电层上形成一第二介电层;在该第二介电层上形成一多层掩模层;在该多层掩模层上形成一第一底部抗反射层;在该第一底部抗反射层上形成一图案化第一光致抗蚀剂层;以该图案化第一光致抗蚀剂层为掩模进行蚀刻步骤,以得到一第一沟槽结构,其中该第一沟槽结构的一底部是位于该多层掩模层内部;移除该图案化第一光致抗蚀剂层与该第一底部抗反射层;形成一第二底部抗反射层,以填满该第一沟槽结构并且覆盖该多层掩模层的一表面;在该第二底部抗反射层上形成一图案化第二光致抗蚀剂层;以该图案化第二光致抗蚀剂层为掩模进行蚀刻步骤,以得到一第一介质窗结构,其中该第一介质窗结构的一底部暴露出该第一介电层的一表面;以及蚀刻该第一沟槽结构与该第一介质窗结构,以得到一第二沟槽结构与一第二介质窗结构,其中该第二介质窗结构的一底部暴露出该衬底的一表面,并且该第二沟槽结构的一底部暴露出该第一介电层的一表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造