[发明专利]使用挡板镀制紫外波段光学薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200410018158.8 申请日: 2004-05-09
公开(公告)号: CN1570201A 公开(公告)日: 2005-01-26
发明(设计)人: 尚淑珍;易葵;张大伟;占美琼;廖春艳;邵建达;范正修 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C23C14/56 分类号: C23C14/56;G02B1/10
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种在镀膜机的真空室内使用挡板镀制紫外波段光学薄膜的方法,其基本原理是:薄膜的几何厚度与光学厚度成一定比例关系,采用单独的监控片进行膜厚控制,在镀膜过程中使用挡板,使基片的膜料被均匀遮挡掉一定比例,而控制片的膜料不被遮挡,以实现控制片上的膜厚与基片上的膜厚成一定比例,控制片上的膜厚与监控波长相符,基片上的膜厚由监控波长与挡板的形状所决定,为控制片上的膜厚的几分之一,从而达到用长波做监控波长控制短波长薄膜制备的目的。本发明是利用现有镀膜机的光控系统进行的,可实现紫外薄膜的精确监控,提高了设备的通用性。
搜索关键词: 使用 挡板 紫外 波段 光学薄膜 方法
【主权项】:
1、一种在镀膜机的真空室内使用挡板镀制紫外波段光学薄膜的方法,其特征在于基本原理是:采用单独的监控片进行膜厚控制,在镀膜过程中使用挡板,使基片的膜料被均匀遮挡掉一定比例,而控制片的膜料不被遮挡,以实现控制片上的膜厚与基片上的膜厚成一定比例,控制片上的膜厚与监控波长相符,基片上的膜厚由监控波长与挡板的形状所决定,为控制片上的膜厚的几分之一,从而达到用长波做监控波长控制短波长薄膜制备。
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