|
|
钻瓜专利网为您找到相关结果 9个，建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]用于识别至少一种材料特性的检测器-CN202080021006.0在审
-
F·希克;P·希伦;P·辛德勒;A·施密特;M·埃伯斯帕奇;C·伦纳茨;R·森德;L·迪塞尔伯格;H·亨根;I·布鲁德;J·昂格尔;C·邦西诺
-
特里纳米克斯股份有限公司
-
2020-03-13
-
2021-10-29
-
G01S7/48
- 提出了一种用于识别至少一种材料特性m的检测器(110)。检测器110包括：至少一个传感器元件(116)，其包括光学传感器(120)的矩阵(118)，光学传感器(120)各自具有光敏区域(122)。传感器元件(116)被配置为记录源自至少一个对象(112)的光束的至少一个反射图像。检测器(110)包括：至少一个评估装置(132)，其被配置为通过对反射图像的至少一个束轮廓的评估来确定材料特性。评估装置(132)被配置为通过将至少一个距离相关的图像滤波器Ф1应用于反射图像来确定至少一个距离特征距离相关的图像滤波器是选自包括以下项的组中的至少一种滤波器：光子深度比滤波器；离焦深度滤波器；或其线性组合；或者是另一距离相关的图像滤波器Ф1其他，其通过|ρФ1其他,Фz|≥0.40来与光子深度比滤波器和/或离焦深度滤波器或其线性组合相关，其中，Фz是光子深度比滤波器或离焦深度滤波器或其线性组合中的一者。评估装置(132)被配置为通过将至少一个材料相关的图像滤波器Ф2应用于反射图像来确定至少一个材料特征材料相关的图像滤波器是选自包括以下项的组中的至少一种滤波器：亮度滤波器；光斑形状滤波器；平方范数梯度；标准偏差；平滑滤波器，诸如高斯滤波器或中值滤波器；基于灰度级发生的对比度滤波器；基于灰度级发生的能量滤波器；基于灰度级发生的同质性滤波器；基于灰度级发生的相异滤波器；劳氏能量滤波器；阈值区域滤波器；或其线性组合；或者是另一材料相关的图像滤波器Ф2其他，其通过|ρФ2其他,Фm|≥0.40来与亮度滤波器、光斑形状滤波器、平方范数梯度、标准偏差、平滑滤波器、基于灰度级发生的能量滤波器、基于灰度级发生的同质性滤波器、基于灰度级发生的相异滤波器、劳氏能量滤波器、或阈值区域滤波器、或其线性组合中的一者或多者相关，其中Фm是亮度滤波器、光斑形状滤波器、平方范数梯度、标准偏差、平滑滤波器、基于灰度级发生的能量滤波器、基于灰度级发生的同质性滤波器、基于灰度级发生的相异滤波器、劳氏能量滤波器、或阈值区域滤波器、或其线性组合中的一者。评估装置(132)被配置为通过评估距离特征和材料特征来确定纵坐标z和材料特性m。
- 用于识别至少一种材料特性检测器
- [发明专利]用于确定至少一个对象的位置的检测器-CN202080019008.6在审
-
M·埃伯斯帕奇;C·伦纳茨;R·森德;P·辛德勒;P·希伦;I·布鲁德
-
特里纳米克斯股份有限公司
-
2020-01-08
-
2021-10-26
-
G06T7/521
- 提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个传感器元件(116)，其具有光学传感器(120)的矩阵(118)，每个光学传感器(120)具有光敏区域(122)，其中，传感器元件(116)被配置为确定对象(112)的至少一个反射图像(126)；‑至少一个评估设备(128)，其中，评估设备(128)被配置为选择反射图像(126)的至少一个反射特征，其中，评估设备(128)被配置为通过优化至少一个模糊函数(fa)来确定反射图像(126)的所选反射特征的至少一个距离估计(130)，其中，距离估计(130)由纵坐标z和误差区间±ε给出，其中，评估设备(128)适于确定至少一个参考图像(134)中的与距离估计(130)对应的至少一个位移区域(132)，其中，评估设备(130)适于将所选反射特征与位移区域(132)内的至少一个参考特征匹配。
- 用于确定至少一个对象位置检测器
- [发明专利]用于确定至少一个对象的位置的检测器-CN202080018962.3在审
-
R·森德;P·辛德勒;C·M·奥古恩;P·希伦;C·伦纳茨
-
特里纳米克斯股份有限公司
-
2020-01-08
-
2021-10-22
-
G01S17/46
- 提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括‑至少一个传感器元件(114)，其具有光学传感器(118)的矩阵(116)，每个光学传感器(118)具有光敏区域，其中，每个光学传感器(118)被设计为响应于由从对象(112)传播到检测器(110)的光束对其相应光敏区域的照射，生成至少一个传感器信号，‑至少一个评估设备(128)，其中，评估设备(128)被配置为选择矩阵(116)的至少一个关注区域，其中，评估设备(128)被配置为分别确定关注区域的至少两个光学传感器(118)的至少一个传感器信号，其中，评估设备(128)被配置为通过评估根据传感器信号的组合信号Q来确定对象的至少一个纵坐标zDPR，‑其中，评估设备(128)被配置为根据传感器信号确定关注区域的至少一个图像，其中，评估设备(128)被配置为通过优化至少一个模糊函数fa根据图像确定对象(112)的至少一个纵坐标zDFD，‑其中，评估设备(128)被配置为考虑纵坐标zDPR和纵坐标zDFD来确定至少一个组合距离信息z。
- 用于确定至少一个对象位置检测器
- [发明专利]用于确定至少一个对象的位置的检测器-CN202080018963.8在审
-
M·埃伯斯帕奇;P·希伦;P·辛德勒;R·森德;C·伦纳茨;I·布鲁德
-
特里纳米克斯股份有限公司
-
2020-01-08
-
2021-10-22
-
G06T7/80
- 提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个传感器元件(130)，其具有光学传感器(134)的矩阵(132)，每个光学传感器(134)具有光敏区域(136)，其中，传感器元件(130)被配置确定至少一个反射图像(142)；‑至少一个评估设备(146)，其中，评估设备(146)被配置为在反射图像(142)中的至少一个第一图像位置(148)处选择反射图像(142)的至少一个反射特征，其中，评估设备(146)被配置为通过优化至少一个模糊函数fa来确定所选反射特征的至少一个纵坐标z，其中，评估设备(146)被配置为在至少一个参考图像(168)中在参考图像(168)中的与至少一个反射特征对应的至少一个第二图像位置(154)处确定至少一个参考特征，其中，以两个不同的空间配置来确定参考图像(168)和反射图像(142)，其中，空间配置的不同之处在于相对空间星座，其中，评估设备(146)被配置为根据纵坐标z、第一图像位置(148)和第二图像位置(154)来确定相对空间星座。
- 用于确定至少一个对象位置检测器
- [发明专利]用于确定至少一个存储单元中的填充水平的方法和装置-CN201980045768.1在审
-
C·邦西诺;C·席尔德克内希特;P·希伦;P·辛德勒;E·马特沃斯詹;C·朗根施密德;R·森德;I·布鲁德
-
特里纳米克斯股份有限公司
-
2019-05-08
-
2021-02-19
-
G06T7/586
- 提出了一种用于确定至少一个存储单元(112)中的填充水平的方法。该方法包括以下步骤：a)采用包括多个照射特征(118)的至少一个照射图案(116)照射存储单元(112)，并确定存储单元(112)的至少一个反射图像；b)选择反射图像中的至少一个第一反射特征和至少一个第二反射特征；c)对于第一反射特征，响应于第一反射特征对具有光学传感器(124)矩阵的至少一个传感器元件(120)的照射而生成至少两个第一传感器信号，并且对于第二反射特征，响应于第二反射特征对传感器元件(120)的照射而生成至少两个第二传感器信号，光学传感器(124)各自具有光敏区域；d)评估在步骤c)中生成的两个第一传感器信号，从而确定第一反射特征的至少一个第一纵向坐标z1，并评估在步骤c)中生成的两个第二传感器信号，从而确定第二反射特征的至少一个第二纵向坐标z2；e)在反射图像中确定第一反射特征的至少一个位置(x1，y1)和第二反射特征的至少一个位置(x2，y2)并确定第一反射特征的至少一个第一矢量(x1，y1，z1)和第二反射特征的至少一个第二矢量(x2，y2，z2)；f)根据第一矢量和第二矢量确定至少一个高度图，并由此确定存储单元中的填充水平。
- 用于确定至少一个存储单元中的填充水平方法装置
- [发明专利]用于确定至少一个对象的位置的检测器-CN201880086545.5在审
-
P·辛德勒;P·希伦;M·埃伯斯帕奇;C·伦纳茨;R·森德;I·布鲁德;H·亨根;L·迪塞尔伯格
-
特里纳米克斯股份有限公司
-
2018-11-16
-
2020-08-25
-
G01S17/46
- 提出一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括‑具有光学传感器矩阵(132)的至少一个传感器元件(130)，每个光学传感器具有光敏区，其中，每个光学传感器(134)被设计为响应于由从对象(112)传播到检测器(110)的光束(141)对每个光学传感器(134)的相应光敏区(136)的照射而生成至少一个传感器信号，其中，传感器元件(130)适于确定至少一个反射图像；‑至少一个评估装置(146)，其中，评估装置(146)适于在反射图像中的至少一个第一图像位置(150)处选择反射图像的至少一个反射特征，其中，评估装置(146)被配置为通过根据传感器信号评估组合信号来确定对象(112)的至少一个纵向坐标z，其中，评估装置(146)适于在参考图像中与至少一个反射特征相对应的至少一个第二图像位置(154)处确定至少一个参考图像中的至少一个参考特征，其中，参考图像和反射图像在两个不同空间配置下确定，其中，空间配置在相对空间星座方面不同，其中，评估装置(146)适于根据纵向坐标z以及第一和第二图像位置(150、154)来确定相对空间星座。
- 用于确定至少一个对象位置检测器
|
