专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于面部解锁的光学皮肤检测-CN202280015245.4在审
  • P·席伦;B·古蒂尔;F·希克;M·冈特;L·迪塞尔伯格;C·伦纳茨 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2022-02-17 - 2023-10-17 - G06F21/32
  • 提出了用于面部认证的方法。该方法包括以下步骤:a)至少一个面部检测步骤(110),包括通过使用至少一个相机(112)确定至少一个第一图像;b)至少一个皮肤检测步骤(116),包括通过使用至少一个照明单元(118)将包括多个照明特征的至少一个照明图案投影到场景上,使用至少一个相机(112)确定至少一个第二图像,使用处理单元(114)以通过分析位于与包括所识别的几何特征的第一图像的图像区域相对应的第二图像的图像区域内的至少一个反射特征的光束轮廓来确定至少一个反射特征的第一光束轮廓信息,并且从第一光束轮廓信息确定反射特征的至少一个材料性质,其中,如果材料性质对应于皮肤的至少一个性质特性,则所检测到的面部被表征为皮肤;c)至少一个3D检测步骤(120),包括通过分析位于与包括所识别的几何特征的第一图像的图像区域相对应的第二图像的图像区域内的至少四个反射特征的光束轮廓来确定至少四个反射特征的第二光束轮廓信息,并通过使用处理单元(114)从所述反射特征的第二光束轮廓信息确定至少一个深度水平,其中如果深度水平偏离平面对象的预先确定或预定义的深度水平,则所检测到的面部被表征为3D对象;d)至少一个认证步骤(122),包括如果在步骤b)(116)中所检测到的面部被表征为皮肤并且在步骤c)(120)中所检测到的面部被表征为3D对象,则通过使用至少一个认证单元来认证所检测到的面部。
  • 用于面部解锁光学皮肤检测
  • [发明专利]用于测量光辐射的光谱感测设备和方法-CN202180080948.0在审
  • C·M·奥古恩;S·库尔卡尼;F·普罗埃尔 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2021-12-01 - 2023-08-08 - G01J3/26
  • 本发明涉及用于测量光辐射(112)的光谱感测设备(110)和方法(160)。光谱感测设备110包括‑至少一个光敏检测器(120),其中,所述至少一个光敏检测器(120)具有至少一个光敏区域(122),所述至少一个光敏区域(122)被指定为接收光辐射(112),其中,由所述至少一个光敏检测器(120)生成的至少一个检测器信号取决于所述至少一个光敏区域(122)的照射;‑至少一个辐射发射元件(116),其中,所述至少一个辐射发射元件(116)被指定为发射所述光辐射(112);‑至少一个光学元件(124),其中,所述至少一个光学元件(124)被指定为将所述光辐射(112)的第一部分(128)引导到所述至少一个光敏检测器(120);‑至少一个评估单元(140),其中,所述至少一个评估单元(140)被配置为通过使用由所述至少一个光敏检测器(120)基于由所述光辐射(112)的所述第一部分(128)对所述至少一个光敏区域(122)的照射生成的至少一个第一检测器信号来执行对所述光谱感测设备(110)的校准,其中,所述校准是指不时地校正在所述光谱感测设备(110)中发生的漂移效应的过程,其中,所述飘移效果由与所述光谱感测设备(110)本身有关的或者对所述光谱感测设备(110)有影响的改变引起。用于测量光辐射(112)的光谱感测设备(110)和方法(160)被配置为优选地以全自动化的方式对光谱感测设备(110)进行自校准而不需要任何预定义的反射目标。因此,光谱感测设备和方法可以具体地被配置为执行自校准而无需用户参与。
  • 用于测量光辐射光谱设备方法
  • [发明专利]确定至少一个对象的位置的检测器-CN201880069408.0有效
  • P·辛德勒;P·席伦;M·埃伯斯帕奇;C·伦纳茨;R·森德;I·布鲁德;H·亨根;L·迪塞尔伯格 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2018-08-28 - 2023-07-18 - G01S7/48
  • 提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。检测器(110)包括:‑具有光学传感器(120)的矩阵(118)的至少一个传感器元件(116),所述光学传感器(120)各自具有光敏区(122),其中,每个光学传感器(120)被设计为响应于从所述对象(112)向所述检测器(110)传播的反射光束(182)对其相应光敏区(122)的照射来生成至少一个传感器信号,其中,所述传感器元件(116))适于确定至少一个反射图像(126);‑至少一个评估装置(128),其中,所述评估装置(128)适于选择所述反射图像(126)的至少一个反射特征,其中,所述评估装置(128)被配置为通过根据所述传感器信号评估组合信号Q来确定所述反射图像(134)的所选择的反射特征的至少一个纵向区域(130),其中,所述评估装置(128)适于至少一个参考图像(134)中的与所述纵向区域(130)相对应的至少一个位移区域(132),其中,所述评估装置(128)适于将所选择的反射特征与所述位移区域(132)内的至少一个参考特征匹配。
  • 确定至少一个对象位置检测器
  • [发明专利]通过显示器的深度测量-CN202180076357.6在审
  • S·麦茨;C·伦纳茨;F·希克;C·波得斯;N·伯纳 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2021-11-12 - 2023-07-14 - G01S7/493
  • 公开了一种显示装置(1)。该显示装置(1)包括:至少一个照射源(5),其被配置为在至少一个场景上投射至少一个照射束;至少一个光学传感器(4),其具有至少一个光敏区,其中,光学传感器(4)被配置为测量由场景响应于照射束的照射而产生的至少一个反射光束;至少一个半透明显示器(2),其被配置为显示信息,其中,照射源(5)和光学传感器(4)放置在显示器(2)前面照射光束的传播方向上;至少一个控制单元(8),其中,控制单元(8)被配置为在照射期间关闭照射源(5)区的显示器(2)和/或在测量期间关闭光学传感器(4)区的显示器(2)。
  • 通过显示器深度测量
  • [发明专利]光谱仪设备及系统-CN201880080479.0有效
  • S·瓦鲁施;R·古斯特;B·福伊尔施泰因;R·森德;I·布鲁德 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2018-12-12 - 2023-06-23 - G01J3/02
  • 公开了一种光谱仪系统(110)和一种光谱仪设备(112),其适合于研究或监控目的,特别是在红外(IR)光谱区域中,并且适于检测热、火焰、火或烟。本文中,光谱仪设备(112)包括:光学元件(122),其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)传输到长度可变滤波器(118),其中,光学元件(122)包括光学聚光器设备(124),其中,光学聚光器设备(124)在反方向(126)操作,其中,光学聚光器设备(124)包括非圆锥形状(128);长度可变滤波器(118),其被指定用于将入射光(114)分离成组成波长信号的光谱;以及具有多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120),其中,每个像素化传感器(144)适于接收组成波长信号之一的至少一部分,其中,每个组成波长信号与每个组成波长的强度有关。光谱仪设备(112)允许捕获来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)以特别高的聚光效率传输到长度可变滤波器(118)。除了光谱仪设备(112)之外,光谱仪系统(110)还包括评估单元(150),评估单元(150)被指定用于通过评估由光谱仪设备(112)提供的检测器信号(204、204'、204”)来确定与对象(116)的光谱有关的信息。
  • 光谱仪设备系统
  • [发明专利]光学传感器和用于光学检测的检测器-CN201780046664.3有效
  • W·赫尔梅斯;S·瓦鲁施;R·森德;I·布鲁德;B·福伊尔施泰因 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2017-07-27 - 2023-06-20 - H01L27/146
  • 本发明涉及光学传感器、光学检测至少一个对象的包括光学传感器的检测器、制造光学传感器的方法以及光学传感器和检测器的各种用途。此外,本发明涉及人机接口、娱乐装置、扫描系统、跟踪系统、立体系统和相机。光学传感器(110)包括至少一个光电导材料(114)的层(112)、接触光电导材料(114)的层(112)的至少两个个体电接触(136、136')、以及沉积在光电导材料(114)的层(112)上的覆盖层(116),其中覆盖层(116)是包括至少一种包含金属的化合物(120)的非晶层。光学传感器(110)可作为不笨重的气密封装提供,然而,该封装提供高度保护以防止湿气和/或氧气引起的可能劣化。而且,覆盖层(116)能够激活光电导材料(114),这导致光学传感器(110)的性能提高。此外,光学传感器(110)可容易地制造并集成在电路载体装置上。
  • 光学传感器用于检测检测器
  • [发明专利]光谱仪设备及系统-CN201880080480.3有效
  • S·瓦鲁施;R·古斯特;B·福伊尔施泰因;R·森德;I·布鲁德 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2018-12-12 - 2023-06-09 - G01J3/02
  • 公开了一种光谱仪系统(110)和一种光谱仪设备(112),其适合于研究或监控目的,特别是在红外(IR)光谱区域中,并且适于检测热、火焰、火或烟。本文中,光谱仪设备(112)包括:光学元件(122),其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)传输到长度可变滤波器(118),其中,光学元件(122)被布置为使得入射光(114)沿着相对于光谱仪设备(112)的光轴(123)非对称的光路传输到长度可变(118)滤波器;长度可变滤波器(118),其被指定用于将入射光(114)分离成组成波长信号的光谱;以及包括多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120),其中,每个像素化传感器(144)适于接收组成波长信号之一的至少一部分,其中,每个组成波长信号与每个组成波长的强度有关。光谱仪设备(112)允许捕获来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)以特别高的聚光效率传输到长度可变滤波器(118)。除了光谱仪设备(112)之外,光谱仪系统(110)还包括评估单元(150),评估单元(150)被指定用于通过评估由光谱仪设备(112)提供的检测器信号(172、172'、172”)来确定与对象(116)的光谱有关的信息。
  • 光谱仪设备系统
  • [发明专利]用于确定至少一个对象的位置的检测器-CN201980066486.X有效
  • C·M·奥古恩;M·埃伯斯帕奇;R·森德;I·布鲁德 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2019-08-23 - 2023-06-02 - G01B11/24
  • 提出了一种用于确定至少一个对象(114)的位置的检测器(112)。检测器(112)包括:至少一个传递装置(130),其中,传递装置(130)具有响应于从对象(114)传播到检测器(112)的至少一个入射光束的至少一个焦距,其中,传递装置(130)具有至少一个光轴(142);至少一个照射源(144),其适于生成用于照射对象(114)的至少一个光束(146),其中,照射源(144)的出射光瞳与光轴(142)偏离距离BL;至少一个第一光接收光纤(120、126)和至少一个第二光接收光纤(120、124),其中,每个光接收光纤(120、126、128)包括至少一个包层(136)和至少一个纤芯(134),其中,第一光接收光纤(120、122)具有纤芯直径d1,其中,第二光接收光纤(120、124)具有纤芯直径d2,其中,比率d1/BL在范围0.000047≤d/BL≤313内,和/或其中,比率d2/BL在范围0.000047≤d2/BL≤313内;至少两个光学传感器(126、128),其中,至少一个第一光学传感器(126)被布置在第一光接收光纤(120、122)的出射端处,并且至少一个第二光学传感器(128)布置在第二光接收光纤(120、124)的出射端处,其中,每个光学传感器(126、128)具有至少一个光敏区域(147),其中,每个光学传感器(126、128)被设计为响应于已经穿过相应的光接收光纤(120、122、124)的光束对其相应的光敏区域(148)的照射而生成至少一个传感器信号;至少一个评估装置(150),其被配置用于通过评估来自传感器信号的组合信号Q来确定对象(114)的至少一个纵坐标z。
  • 用于确定至少一个对象位置检测器
  • [发明专利]用于测量光辐射的光谱仪装置和方法-CN202180060509.3在审
  • C·M·奥古恩;S·胡斯;R·古斯特;S·瓦鲁施;P·辛德勒 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2021-07-23 - 2023-05-19 - G01J3/10
  • 本发明涉及一种用于测量光辐射(114)的光谱仪装置(112)和方法(160)以及包括该光谱仪装置(112)的光谱仪系统(110)。一种用于测量光辐射(114)的光谱仪装置(112)包括:至少一个辐射发射元件(116),其中,所述至少一个辐射发射元件(116)被设计用于发射光辐射(114),其中,发射的光辐射(114)的光谱取决于所述辐射发射元件(116)的温度;至少一个光敏检测器(120),其中,所述至少一个光敏检测器(120)具有被指定用于接收发射的光辐射(114)的至少一个光敏区域(122、122”、122”、122”'),其中,由所述至少一个光敏检测器(120)产生的至少一个检测器信号(128)取决于所述至少一个光敏区域(122、122'、122”、122”')的照射以及所述至少一个光敏检测器(120)的温度;至少一个控制电路(130),其中,所述至少一个控制电路(130)被配置用于o通过在已知温度的情况下使用普朗克定律来确定由所述至少一个辐射发射元件(116)发射的光辐射(114)的光谱,以及o通过向所述至少一个辐射发射元件(116)或所述至少一个光敏检测器(120)中的至少一者施加至少一个控制信号(132、134)来调整所述至少一个辐射发射元件(116)或所述至少一个光敏检测器(120)中的至少一者的温度;至少一个读出电路(136),其中,所述至少一个读出电路(136)被配置用于测量由所述至少一个光敏检测器(120)产生的所述至少一个检测器信号(128)。光谱仪系统(110)是采用了扫描光谱仪和色散光谱仪的优点的混合光谱仪,从而避免了它们各自的缺点。与二者相比,混合光谱仪通过包括减少数量的所需部件并表现出小型化的机械设置而构成了简化的光谱仪系统。
  • 用于测量光辐射光谱仪装置方法

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