专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]通信系统、监视系统及相关方法-CN202180021729.5在审
  • C·朗根施密德;F·施密特;R·洛夫林契奇;M·V·克特纳;D·克尔布莱因;J·布里尔;T·罗森克兰茨 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2021-03-17 - 2022-11-22 - H04L67/12
  • 本发明涉及一种通信系统(140),涉及一种用于现场监视至少一种物质(112)的监视系统(110),其中,监视系统(110)包括通信系统(140),以及涉及相关方法(310、312)。监视系统(110)可以经由通信系统(140)用于监视至少一种物质(112)并提供处理数据以处理至少一种物质(112)。在此,通信系统(140)包括云服务器(144)、第一服务器(146)、至少一个第二服务器(148、148')以及至少一个第三服务器(150、150');其中,第一服务器(146)进一步具有第一通信接口(156),该第一通信接口(156)被配置为涉及至少一个参考样本的参考光谱信息和参考分析数据提供给云服务器(144);其中,每个第二服务器(148、148')具有第二通信接口(158、158'),该第二通信接口(158、158')被配置为将与至少一种物质(112)相关的光谱信息提供给云服务器(144);其中,云服务器(144)被配置为*通过使用由第一服务器(146)提供的涉及至少一个参考样本的参考光谱信息和参考分析数据生成校准模型,其中,校准模型包括至少一个参数;*将校准模型应用于由第二服务器(148、148')提供的与至少一种物质(112)相关的光谱信息,从而提取至少一个参数的至少一个值;*将至少一个参数的至少一个值经由第一通信接口(156)提供给第一服务器(146);其中,第一服务器(146)进一步被配置为通过使用由云服务器(144)提供的至少一个参数的至少一个值来确定处理数据,其中,处理数据包括与至少一种物质(112)的建议处理相关的至少一条数据;其中,第一服务器(146)进一步具有至少一个第三通信接口(160、160'),其中,每个第三通信接口(160、160')被配置为将处理数据提供给至少一个第三服务器(150、150')。
  • 通信系统监视相关方法
  • [发明专利]通信系统、监测系统及相关方法-CN202180021984.X在审
  • K·U·宾德;G·西德尔;W·费斯提尔;T·卡茨;G·莫茨;W·赫尔梅斯;F·施密特;M·V·凯特纳;J·布里尔;C·朗根施密德 - 巴斯夫欧洲公司;特里纳米克斯股份有限公司
  • 2021-03-17 - 2022-11-04 - G05B19/418
  • 本发明涉及一种通信系统(140)、一种用于原位监测在气体洗涤过程中使用的至少一种物质(112)的监测系统(110)以及相关方法(310,312),其中,监测系统(110)包括通信系统(140)。监测系统(110)可以经由通信系统(140)用于监测至少一种物质(112)并提供用于处理至少一种物质(112)的处理数据。在本文中,通信系统(140)包括云服务器(144)、第一服务器(146)、至少一个第二服务器(148,148')和至少一个第三服务器(150,150');其中,第一服务器(146)进一步具有第一通信接口(156),其被配置为向云服务器(144)提供涉及至少一个参考样本的参考光谱信息和参考分析数据和;其中,每个第二服务器(148,148')具有第二通信接口(158,158'),其被配置为向云服务器(144)提供与至少一种物质(112)相关的光谱信息;其中,云服务器(144)被配置为:‑通过使用由第一服务器(146)提供的涉及至少一个参考样本的参考光谱信息和参考分析数据来生成校准模型,其中,校准模型包括至少一个参数;‑将校准模型应用于由第二服务器(148,148')提供的与至少一种物质(112)相关的光谱信息,由此提取用于至少一个参数的至少一个值;‑经由第一通信接口(156)向第一服务器(146)提供用于至少一个参数的至少一个值;其中,第一服务器(146)被进一步被配置为通过使用由云服务器(144)提供的用于至少一个参数的至少一个值来确定处理数据,其中,处理数据包括与至少一种物质(112)的建议处理相关的至少一条数据;其中,第一服务器(146)进一步具有至少一个第三通信接口(160,160'),其中,每个第三通信接口(160,160')被配置为向至少一个第三服务器(150,150')提供处理数据。
  • 通信系统监测相关方法
  • [发明专利]探测器阵列和光谱仪系统-CN202080069251.9在审
  • S·瓦鲁施;W·赫尔梅斯;C·朗根施密德;J·布里尔;R·古斯特;R·森德;B·福伊尔施泰因;S·克鲁厄 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2020-09-30 - 2022-05-13 - G01J3/26
  • 公开了探测器阵列(112)、包括探测器阵列(112)的光谱仪系统(110)和光谱仪系统(110)的各种用途。光谱仪系统可用于各种研究或监测目的,特别是在红外光谱区域中,尤其是在近红外和中红外光谱区域中。在此,探测器阵列(112)包括基板(212);以及多个探测器像素(144),其应用于基板(212)的表面,其中每个探测器像素(144)具有传感器区域(214),该传感器区域被指定用于接收入射光(114)的部分,其中每个探测器像素(144)被指定用于根据由探测器像素(144)的传感器区域所接收到的入射光(114)的部分的强度而产生传感器信号,其中至少两个相邻的探测器像素(144)共享到公共电势(316)的单个连接,并且其中至少两个探测器像素(144)的传感器区域相对于彼此相差对应的传感器区域(214)的面积(220)。
  • 探测器阵列光谱仪系统
  • [发明专利]用于至少一个对象的光学检测的检测器-CN201680019688.5有效
  • S·瓦鲁施;I·布鲁德;R·森德;C·朗根施密德;W·赫尔梅斯;E·蒂尔;S·伊尔勒 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2016-01-28 - 2022-01-21 - G01S7/481
  • 提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。该检测器(110)包括:‑至少一个纵向光学传感器(114),其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130),其中纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号,其中给定照射的相同总功率,纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174),其中传感器区域(130)包括至少一种光导材料(134),其中给定照射的相同总功率,光导材料(134)的电导率取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174),其中纵向传感器信号取决于电导率;以及‑至少一个评估装置(140),其中评估装置(140)被设计成通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。由此,提供了用于准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单且仍然有效的检测器(110)。
  • 用于至少一个对象光学检测检测器
  • [发明专利]用于确定至少一个对像的位置的检测器-CN201880053570.3有效
  • C·朗根施密德;O·佩科拉;P·辛德勒;R·森德;I·布鲁德;E·蒂尔;S·伊尔勒 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2018-06-25 - 2021-10-29 - G01B11/02
  • 公开了一种用于调整检测器(110)的方法,该检测器(110)用于确定测量范围(114)内的至少一个对象(112)的位置。该检测器(110)包括至少两个纵向光学传感器(116)和用于将对象(112)成像到像平面中的至少一个传送装置(118)。该传送装置(118)具有焦平面。该传送装置(118)被定位在纵向光学传感器(116)和对象(112)之间。该纵向光学传感器(116)中的每一者具有至少一个传感器区域(120)。该纵向光学传感器(116)中的每一者被设计为以取决于由从对象(112)向检测器(110)传播的至少一个光束(178)对所对应的传感器区域(120)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号,其中,在给定相同的总照射功率的情况下,纵向传感器信号取决于光束(178)在传感器区域(120)中的束横截面。该检测器(110)进一步包括至少一个评估装置(124)。该方法包括以下步骤:(i)顺序地将对象(112)纵向移动到测量范围(114)内的具有至少两个不同纵坐标的至少两个不同校准位置(134、136);(ii)针对校准位置(134、136)中的每一者,记录由第一纵向光学传感器(126)生成的至少一个第一纵向传感器信号和由第二纵向光学传感器(128)生成的至少一个第二纵向传感器信号;(iii)针对校准位置(134、136)中的每一者,使用第一纵向传感器信号和第二纵向传感器信号来形成至少一个校准信号;(iv)使用校准信号来生成校准函数,该校准函数定义了对象(112)的纵坐标与第一纵向传感器信号和第二纵向传感器信号之间的关系。
  • 用于确定至少一个位置检测器
  • [发明专利]用于确定至少一个存储单元中的填充水平的方法和装置-CN201980045768.1在审
  • C·邦西诺;C·席尔德克内希特;P·希伦;P·辛德勒;E·马特沃斯詹;C·朗根施密德;R·森德;I·布鲁德 - 特里纳米克斯股份有限公司
  • 2019-05-08 - 2021-02-19 - G06T7/586
  • 提出了一种用于确定至少一个存储单元(112)中的填充水平的方法。该方法包括以下步骤:a)采用包括多个照射特征(118)的至少一个照射图案(116)照射存储单元(112),并确定存储单元(112)的至少一个反射图像;b)选择反射图像中的至少一个第一反射特征和至少一个第二反射特征;c)对于第一反射特征,响应于第一反射特征对具有光学传感器(124)矩阵的至少一个传感器元件(120)的照射而生成至少两个第一传感器信号,并且对于第二反射特征,响应于第二反射特征对传感器元件(120)的照射而生成至少两个第二传感器信号,光学传感器(124)各自具有光敏区域;d)评估在步骤c)中生成的两个第一传感器信号,从而确定第一反射特征的至少一个第一纵向坐标z1,并评估在步骤c)中生成的两个第二传感器信号,从而确定第二反射特征的至少一个第二纵向坐标z2;e)在反射图像中确定第一反射特征的至少一个位置(x1,y1)和第二反射特征的至少一个位置(x2,y2)并确定第一反射特征的至少一个第一矢量(x1,y1,z1)和第二反射特征的至少一个第二矢量(x2,y2,z2);f)根据第一矢量和第二矢量确定至少一个高度图,并由此确定存储单元中的填充水平。
  • 用于确定至少一个存储单元中的填充水平方法装置

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