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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]包含碳化硅晶片的半导体晶片以及SiC半导体装置的制造方法-CN201980047401.3有效
发明人：武井真也;箕谷周平;市川治人;高桥一平;若杉幸宏 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-07-18 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： C30B29/36 文献下载
摘要：半导体晶片中，在碳化硅晶片(10a)的表面具备由碳化硅构成的外延层(10b)。该半导体晶片中，通过进行外延层的表面的平坦度的评价的表面形状测定装置，在评价区内进行上述外延层的多个点的高度测定，并且进行基于该测定的高度的最小二乘法的运算从而决定表面基准面，在中心位置与评价区相同并且范围与评价区不同的曝光区内，以表面基准面为基准，将最高位置的高度设为α，将最低位置的高度设为β，将弯曲值设为|α|+|β|时，使得满足弯曲值为1μm以下的条件。
包含碳化硅晶片半导体以及 sic 装置制造方法

[发明专利]障碍物探测装置-CN202080083347.0在审
发明人：种村友贵;松平宣明;高桥一平 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： G01S15/931 文献下载
摘要：具备：超声波传感器，其设置于车辆中的距路面的高度为规定位置的部分，形成有多个超声波元件，该多个超声波元件朝向车辆的外侧发送探测波，并且接收探测波由障碍物反射回来的反射波作为接收波；以及控制部，其基于接收波导出距障碍物的距离即障碍物距离及障碍物的高度即障碍物高度来进行规定的处理。而且，控制部在导出障碍物距离及障碍物高度的情况下，基于多个超声波元件所接收的接收波的强度及多个超声波元件所接收的接收波的相位差，导出障碍物距离及障碍物高度。
障碍物探测装置

[发明专利]药剂检查装置及方法-CN201380044629.X有效
发明人：与那霸诚;高森哲弥;高桥一平;杉本征刚 -专利权人：富士胶片富山化学株式会社
申请日： 2013-09-05 - 公布日： 2020-01-07 - 主分类号： A61J3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种在药剂检查中能够抑制误判定的同时实现高效检查的药剂检查装置及药剂检查方法。本发明的药剂检查装置(10)对根据处方笺信息调剂并分包于分包袋的药剂进行检查。药剂数据库(15)包含可调剂的药剂的药剂图像。比较对象选定机构(16)从药剂数据库(15)获取根据处方笺调剂的药剂及与其类似的药剂的药剂图像。药剂判别机构(13)对已调剂的药剂的拍摄图像与从药剂数据库(15)获取的药剂图像进行对照，判别拍摄图像中存在的药剂及其个数。检查结果判定机构(17)根据处方笺信息判断已调剂的药剂及其个数是否与处方笺信息一致。
药剂检查装置方法

[发明专利]药剂检查支援装置及方法-CN201380044637.4有效
发明人：与那霸诚;高森哲弥;高桥一平;杉本征刚 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2013-09-05 - 公布日： 2019-11-22 - 主分类号： G16H20/13 文献下载
摘要：本发明提供一种在药剂检查中能够使药剂师的目视监察工作高效化的药剂检查支援装置及药剂检查支援方法。本发明的药剂检查装置(10)对根据处方笺信息调剂并分包于分包袋的药剂进行检查。药剂数据库(15)包含可调剂的药剂的药剂主图像。药剂判别机构(13)对来自药剂数据库的药剂主图像与拍摄的已调剂的药剂的拍摄图像进行对照，判别拍摄图像中存在的药剂及药剂的个数。一览制作机构(18)制作对齐位置来显示根据处方笺调剂的药剂的药剂主图像及判别为拍摄图像中的各药剂的药剂区域图像的一览表。
药剂检查支援装置方法

[发明专利]检查装置及检查方法-CN201580010918.7有效
发明人： 高桥一平 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2015-01-21 - 公布日： 2019-08-27 - 主分类号： A61J3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种检查装置及检查方法，本发明的检查装置(1)具备：检查台(2)，放置由多个固体药剂(O)的集合构成的检查对象(T)；加振部(3)，对检查台(2)进行加振；摄像部(4)，获取放置于检查台(2)的检查对象(T)的沿检查台(2)的第一方向的图像；及控制部(5)，根据包含构成检查对象(T)的药剂的外观信息在内的检查对象信息及检查对象(T)的第一方向的图像，判断检查对象(T)中的固体药剂(O)彼此有无重叠，当判断为固体药剂(O)彼此有重叠时，使加振部(3)动作。
检查装置方法以及计算机执行程序

[发明专利]药剂信息获取装置及方法-CN201480034606.5有效
发明人： 高桥一平 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2014-05-14 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： A61J3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种能够良好地获取一包份的药剂的至少包含外形信息的药剂信息的药剂信息获取装置及方法。本发明的一方式中，暂时保持一包份的药剂的摄像托盘(110A、110B)的底部由V字形槽的槽列构成，通过对投入药剂之后的摄像托盘进行加振来消除一包份的药剂的重叠，且利用V字形槽的第1倾斜面(112A)及第2倾斜面(112B)矫正药剂的姿势。两台摄像机(130A、130B)分别与V字形槽(112)的第1倾斜面(112A)和第2倾斜面(112B)对置配设，由此从两个方向拍摄在V字形槽上被矫正为稳定的姿势的药剂。通过对从两个方向拍摄了药剂的第1图像及第2图像进行图像处理，能够良好地获取药剂的至少包含外形信息的药剂信息。
药剂信息获取装置方法

[发明专利]半导体装置的制造方法-CN201711192049.1在审
发明人：吉田博之;高桥一平;浦上泰 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2017-11-24 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： H01L21/28 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体装置的制造方法，有效地形成相对于SiC晶片的接触电阻低的硅化物层。一种半导体装置的制造方法，包括：对SiC晶片的表面进行磨削，且在露出于所述表面露出的范围形成具有5nm以上的厚度的破碎层的工序；形成将所述破碎层覆盖的金属层的工序；及通过加热来使所述金属层与所述破碎层反应，由此形成与所述SiC晶片欧姆接触的硅化物层，且被所述金属层覆盖的范围的所述破碎层的至少一部分在其厚度方向整个区域变化为硅化物层的工序。 1
破碎层半导体装置硅化物层金属层制造接触电阻欧姆接触整个区域有效地覆盖磨削加热

[发明专利]透光性材料的缺陷检测装置及方法-CN200810004051.6无效
发明人：中岛健;胁田武;高桥一平;樋口学 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2008-01-16 - 公布日： 2008-07-23 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明提供一种透光性材料的缺陷检测装置。在行进的膜的上下，正交偏振地配置第1以及第2偏振板。通过从投光器通过第1偏振板照射光，并用受光器接受从第2偏振板射出的光，来检测出膜的缺陷。第1偏振板和投光器之间，设置有带通滤波器。带通滤波器，去除来自投光器的光之中、波段为420nm以下以及700nm以上的光。由于不需要的波段的光没有入射到受光器，因此能够提高缺陷检测精度。
透光材料缺陷检测装置方法

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