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[实用新型]一种集成电路霍尔效应测试装置-CN202320478430.9有效
发明人：艾文思;高宏玲;翟腾;郭青帅;马子扬;申武鑫;张国杰 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2023-03-14 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成电路霍尔效应测试装置，本实用新型涉及霍尔效应的技术领域。本实用新型包括检测架和霍尔效应测试仪，检测架呈“凹”型，检测架的下端固定连接有底架，检测架的上端固定连接有两个顶板，两个顶板的下端固定连接有两个连接板，霍尔效应测试仪放置于两个连接板的上端，霍尔效应测试仪的下端设置有检测腔，检测架的侧壁之间固定连接有操作板，操作板的上端开设有滑槽，滑槽内滑动连接有测试台，操作板的上方设置有两个卡块，两个卡块内设置有多个集成电路板，第一气缸和卡块配合，可以将集成电路板推入测试台上进行检测。
一种集成电路霍尔效应测试装置

[实用新型]一种半导体集成电路测试器-CN202223352857.9有效
发明人：翟腾;高宏玲;申武鑫;艾文思;郭青帅;马子扬;张国杰 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种半导体集成电路测试器，包括测试台以及放置在测试台上的半导体芯片，测试台上安装有用于对半导体芯片进行卡紧的夹持架，半导体芯片放置在夹持架内部，夹持架内壁设置有可沿其内部移动的防滑卡紧板，防滑卡紧板一侧面连接有用于推动其移动的活动推杆，活动推杆与用于带动其移动的推动件相连。本实用新型涉及集成电路测试设备技术领域。本实用新型的目的是提供一种半导体集成电路测试器，在半导体芯片进行测试时进行稳定夹持，能够自动的对半导体芯片四个侧面进行卡紧松动，操作简单，夹持稳定。
一种半导体集成电路测试

[发明专利]一种用于3D打印机近端进料快速插拔式喷嘴-CN201811520427.9有效
发明人：郭金贵;李俊周;邱素扬;郭青帅;蒋龙龙;吕鑫 -专利权人：河南筑诚电子科技有限公司
申请日： 2018-12-12 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： B29C64/118 文献下载
摘要：本发明涉及一种3D打印机近端进料快速插拔式喷嘴，包括挤出机、圆环强力磁铁、磁铁盖板、定位圆柱销、喷嘴端、吸附块、喷嘴、喉管、加热块、固定梁、安装底板、圆柱销孔和支柱。本发明的有益效果是：定位圆柱销与喉管呈螺旋式连接，为了更加好的固定住定位圆柱销与加热块，磁铁盖板为圆形，其四周顶点处分别设置有固定螺母，为了跟好的固定住圆形强力磁铁防止其在工作过程中发生脱落，吸附块为金属材料，为了更加牢固的固定住喷嘴端防止仪器损坏，定位圆柱销与喉管呈螺旋式连接，为了更加好的固定住定位圆柱销与加热块。
一种用于打印机进料快速插拔式喷嘴

[发明专利]一种集成电路性能测试装置及其测试方法-CN202210487314.3有效
发明人：高宏玲;翟腾;艾文思;郭青帅;马子扬;申武鑫 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-05-06 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路性能测试装置，包括液槽、气囊、运载机构和探针机构；所述液槽内装载有承载液，两个所述气囊间隔固设于液槽的槽底上；所述运载机构浮动悬浮于液槽内的承载液上，所述探针机构设于液槽的上方；所述探针机构位于液槽的中部上方，所述运载机构的数量为两个；本发明通过将运载机构悬浮于承载液上，利用气囊充气使得承载液的液面升高来带动运载机构上移，直至运载机构与探针机构在第二喷管和导向沉孔的导向下配合，使得集成电路封装体贴靠在密封垫表面上，然后通过铁粉体将集成电路封装体与外界测试仪电气连接进行性能测试，如此有效避免对集成电路封装体的引脚造成破坏，结构简单、制造成本低。
一种集成电路性能测试装置及其方法

[实用新型]一种集成电路老化筛选测试装置-CN202223352878.0有效
发明人：翟腾;高宏玲;艾文思;郭青帅;申武鑫;张国杰;马子扬 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成电路老化筛选测试装置，包括筛选测试架、导入槽以及导出槽，筛选测试架上开设有用于集成电路板导入的导入槽，导入槽尾端两侧设置有用于集成电路板导出的导出槽，两组导出槽之间设置有开设有在筛选测试架上的测试槽，测试槽内部安装有感应器，筛选测试架一侧面固定有固定板，固定板上安装有位于感应器上方的施力件，感应器与PLC控制器相连。本实用新型涉及集成电路老化筛选设备技术领域。本实用新型能够在老化电路板进行测试时对其表面增加一定压力，根据发生的形变变换产生的压力大小，判断电路板是否老化，对其中老化的集成电路板进行筛选，提高筛选便捷性。
一种集成电路老化筛选测试装置

[实用新型]一种集成电路可靠度的测试装置-CN202222766334.2有效
发明人：翟腾;高宏玲;马子扬;申武鑫;张国杰;艾文思;郭青帅 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成电路可靠度的测试装置，包括装置底板和开设在装置底板上表面的放置槽，所述设置在装置底板上的固定组件，所述固定组件包括设置在放置槽上的若干个吸盘，在按压柱、连接槽、第一弹簧、限位孔、出气腔室、滑动腔室、滑杆、第二弹簧、连接杆、活塞和负压腔室的配合下，活塞靠近第二弹簧进运动，此时负压腔室内形成负压，使吸盘产生吸力，当电路板与吸盘相接触时，吸盘将对电路板进行限位固定。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。本实用新型具有电路板在检测的电路的过程中不会出损伤，确保数据的准确性以及减少电路板报销率的效果。
一种集成电路可靠测试装置

[实用新型]一种集成电路的自动测试装置-CN202222765750.0有效
发明人：翟腾;高宏玲;郭青帅;申武鑫;张国杰;艾文思;马子扬 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成电路的自动测试装置，包括一侧开口设置的壳体和位于所述壳体上半部的检测部，所述壳体内底壁开设有两个第一槽，所述第一槽内过盈配合有第一活塞，所述第一活塞与所述检测部相连接，所述壳体底壁内开设有两个放置腔，所述放置腔内过盈配合有第二活塞，所述放置腔上半部与对应所述第一槽下半部之间连通开设有气道，所述壳体相对两侧均开设有排气孔，所述排气孔与对应所述第一槽下半部相通，所述壳体侧壁对应所述排气孔的位置设置有泄压阀。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。本实用新型在检测部下降对电路板进行测试时，能够自动对不同尺寸的电路板定位并固定，提高了集成电路自动测试装置的适用性。
一种集成电路自动测试装置

[实用新型]一种集成电路板的多工位测试装置-CN202222765782.0有效
发明人：高宏玲;翟腾;郭青帅;艾文思;马子扬;张国杰;申武鑫 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01N3/12 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成电路板的多工位测试装置，包括装置本体和设置在装置本体上的耐压检测组件，在挤压面板、拉伸杆、L形磁铁、固定磁铁、气缸、挤压面板、连接面板、滑杆、第二弹簧、顶起柱和连接孔的配合下，顶起柱对电路板进行顶起，当电路板与测试槽发生一定的脱离时，关闭气缸，当将电路板都取出时，再次开启气缸，其带动挤压面板继续向上移动，同时L形磁铁带动固定磁铁发生位移直至固定磁铁与阻隔块相接触，使二者相脱离，此时连接面板受到第二弹簧的弹力恢复到初始的位置。本实用新型涉及电路板测试的技术领域。本实用新型具有可便捷地将多个电路板与测试槽发生一定的脱离，便于操作者将其进行取出的效果。
一种集成电路板多工位测试装置

[实用新型]一种电子整机高温动态老化测试装置-CN202222299973.2有效
发明人：高宏玲;翟腾;艾文思;郭青帅;申武鑫;张国杰;马子扬 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种电子整机高温动态老化测试装置，其特征在于：包括测试机主体以及安装在测试机顶部的导风板，导风板为中空结构，导风板底部开设有与测试机主体相通的导风孔，导风板一端设置有安装在测试机主体顶部的安装架，安装架内部安装有散热风机，散热风机与导风板相通，测试机主体一侧面安装有与其活动连接的活动框，活动框内侧安装有散热网，活动框与测试机主体之间设置有用于推动其移动的活动推件，本实用新型能够在对测试机测试时其内部产生的温度进行测量，在测量过程中对散热网进行开合调节以及在温度过高时，通过散热风机想测试机主体内部吹入凉风，进行快速降温，提高了降温效率。
一种电子整机高温动态老化测试装置

[实用新型]一种集成电路老化测试装置-CN202222315533.1有效
发明人：高宏玲;翟腾;艾文思;郭青帅;马子扬;申武鑫;张国杰 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成电路老化测试装置，包括活动检测板以及显示板，活动检测板与显示板均设置为方形结构，且长度与宽度相同，活动检测板与显示板通过活动转杆活动连接，活动检测板上开设有用于放置集成线路板的放置槽，活动检测板内部嵌入有可沿放置槽内部上下移动的放置板，放置板设置为L型结构，放置板顶部安装有导入架，活动检测板顶部开设有用于对导入架使力的施力凹槽，显示板上安装有显示屏，显示屏一侧设置有用于调节测试参数的调节按钮。本实用新型涉及集成电路老化测试设备技术领域。本实用新型的目的是提供一种集成电路老化测试装置，能够在对测设装置进行便捷的收放携带，结构简单，操作便捷，降低检测设备的制造成本。
一种集成电路老化测试装置

[发明专利]一种大功率半导体测试装置以及方法-CN202211019691.0在审
发明人：艾文思;高宏玲;翟腾;郭青帅;马子扬;申武鑫;张国杰 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-08-24 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种大功率半导体测试装置以及方法，涉及半导体测试技术领域。为了解决现有技术中，通常单个测试头依次对大功率半导体进行测试，人工依次进行上料下料，测试时间长，增大劳动力，大大降低了测试效率，大大缩短了单个测试头的使用寿命，提高测试成本的问题。一种大功率半导体测试装置，包括测试底座、固定翻转机构和测试机构，测试底座上表面一侧安装有固定翻转机构，固定翻转机构一侧设置有测试机构；通过检测板同步对固定板内固定的大功率半导体进行测试，大大提高了测试效率，由测试人员一次放入多个大功率半导体，缩短了测试时间，减少人工劳动力，有效提高了检测针头的使用寿命，减少磨损次数，为企业带来了良好的经济效益。
一种大功率半导体测试装置以及方法

[发明专利]一种集成电路专用高效封装测试装置-CN202211019686.X在审
发明人：翟腾;高宏玲;艾文思;郭青帅;马子扬;申武鑫;张国杰 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-08-24 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种集成电路专用高效封装测试装置，属于电路封装技术领域，为了解决现有的移动件无法在移动的同时无法作为支撑架，且无法自动进行下料；封装件只能单独对晶片贴片，导致贴片效率差，且无法根据贴片间距进行调整，导致适配性差的问题。本发明通过封装定位板在移动轨道上移动，带动待封装的电路板移位，做到自动移动，方便与封装组件对接，防止封装定位板脱轨，提高移动的稳定性,收卷线绳收卷，有效带动物料自动下料,通过水平纵向移动和竖向移动，便于封装压合装置自动取料压合，提高封闭便捷性,根据贴片需要进行选择，提高整体适配性，且通过一排式贴片，提高封装效率，避免单个贴片导致的效率差的问题。
一种集成电路专用高效封装测试装置

[实用新型]一种芯片硬件安全检测装置-CN202220127970.8有效
发明人：艾文思;高宏玲;翟腾;郭青帅;马子扬;申武鑫 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是指一种芯片硬件安全检测装置，其包括工作台面、机台架、去封装结构和拍照结构，去封装结构包括芯片槽块、芯片洗剂导出组件、吸剂组件以及加热组件，拍照结构包括CCD相机，芯片槽块设有定位槽，芯片洗剂导出组件包括第一挠性导管以及洗剂供给器，吸剂组件包括第二挠性导管和抽液泵，加热组件包括对焦移动架、若干个万向调节器和若干个激光发射器，对焦移动架的一端设有一万向调节器。本申请能够自动实现去封装、拍照等步骤，检测效率高，能够将集成电路板的损坏程度降至最低，不需要人工清洗，还能够及时抽走芯片洗剂，保护集成电路板的其它元器件。
一种芯片硬件安全检测装置

[实用新型]一种集成电路芯片检测装置-CN202220127969.5有效
发明人：翟腾;高宏玲;艾文思;郭青帅;马子扬;申武鑫 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其是指一种集成电路芯片检测装置，其包括上检测组件和下检测组件，上检测组件包括上载移模座以及多个扁平封装芯片引脚检测探针，下检测组件包括下载移模座以及多个直插式封装芯片引脚检测探针，扁平封装芯片引脚检测探针包括第一探针管座、第一探针、第一弹性部件以及扁平式针头，扁平式针头与集成电路板的扁平封装芯片引脚相对应设置；直插式封装芯片引脚检测探针包括第二探针管座、第二探针、第二弹性部件以及凹杯式针头，凹杯式针头与集成电路板的直插式封装芯片引脚相对应设置。本申请能够对扁平式封装和直插式封装的集成电路进行同时检测，不需翻面操作，提高检测效率和准确率，操作简单。
一种集成电路芯片检测装置

[实用新型]一种冲击碰撞自动测试装置-CN202220189062.1有效
发明人：翟腾;高宏玲;马子扬;艾文思;申武鑫;郭青帅 -专利权人：中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）
申请日： 2022-01-24 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01M7/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种冲击碰撞自动测试装置，其中，平台底架的底部设有上升驱动机构，上升驱动机构包括上升驱动电机、减速箱、电磁释放器、驱动转杆以及驱动竖杆，驱动竖杆分别固接于测试平台的两侧并且滑动连接于平台底架，驱动竖杆的中下部设有直线齿轮；驱动转杆转动设置，驱动转杆的两端分别设有一圆形齿轮，这两个圆形齿轮分别与相应的直线齿轮啮合；电磁释放器连接于驱动转杆与减速箱的输出轴之间，用作通电情况下的电磁吸合以及同步转动作用；上升驱动电机的输出轴与减速箱的输入轴相接；上升驱动电机、电控泄压阀以及电磁释放器分别电连接控制主机。与现有技术相比，可根据测试参数自动设置升降尺度，以完成不同高度的跌落试验。
一种冲击碰撞自动测试装置

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